铜的 X-射线特性.pdfVIP

铜的 X-射线特性 相关内容(Related topics) X-射线管、轫致辐射、特征辐射、能级、晶体结构、晶格常数、吸收、吸收 边沿、干涉、布拉格等式、衍射级 原理和任务(Principle and task) 用不同的单晶分析阳极铜的 X-射线谱，并把结果绘制成图。从衍射倾角的 不同位置，可以确定特征谱线的能量。 实验设备(Equipment) X-射线基本组件，35kV 09058.99 1 X-射线的角度计，35kV 09058.10 1 铜 X-射线管的插入组件 09058.50 1 计数管，B 型 09005.00 1 晶体锂-氟化物，裱好的 09056.05 1 晶体钾-溴化物，裱好的 09056.01 1 记录设备： X-Y 记录仪 11416.97 1 连接线缆，100cm，红色 07363.01 2 连接线缆，100cm，兰色 07363.04 2 或者 X-射线组件软件，35kV 14407.61 1 数据线，插头/插座，9 针 14602.00 1 计算机 课题(Problems) 1．使用锂-氟（Li-F ）单晶分析仪，记录阳极铜发射的X-射线的强度，在最 大阳极电压和阳极电流处，与布拉格角的的函数关系。 例图 1 X-射线分析仪实验设备 2 ．换用钾-溴（K-Br ）单晶做分析仪，重复步骤 1。 3 ．铜的特征谱线的能量值将被计算出来，并与铜不同能级系列的能量进行 比较。 实验设备组装和实验过程(Set-up and procedure) 按例图 1连接实验设备，在X-射线仪的输出管固定一个光圈管。（锂-氟（Li-F ） 晶体是直径 1mm 的管子，钾-溴（K-Br ）晶体是直径2mm 的管子）。 把 X-射线仪的开关关掉，在实验设备基板面的相应的套接口上连接好角度 计和计数管，在中间放置角度计和裱好的晶体分析仪，设置计数管在右档板。 记录光谱还需要以下的设置： ——自动和手动模式 ——门时 2s ，角步进宽度 0.1 °。 ——使用锂-氟（Li-F ）单晶的扫描范围：3 °--55 °，使用钾-溴（K-Br ）单 晶的扫描范围：3 °--75 °。 ——阳极电压U =35kV, 阳极电流I =1mA 。 A A 当使用X-Y 记录仪来记录光谱时，将 Y 轴连在 X-射线仪基本组件的模拟输 出口（lmp/s ），相应的，为了晶体的角度的定位，将 X 轴插入模拟输出口。（设 置按钮在输出位置，为晶体的角选择模拟输出） 当记录中需要使用计算机时，可通过X-射线仪的基本组件的 SUB-D socket 套接口连接。 注意： 请不要将计数管长时暴露在主辐射下。 理论和计算(Theory and evaluation) 当高能电子撞击X-射线管的金属阳极时，X-射线产生一个连续的能级分布 （这就是所谓的轫致辐射）。这些能量不取决于阳极电压，并由特定的阳极物质 发出的X-射线，就是所谓的X-射线特征谱线在连续区域的叠加。该现象可以通过 以下方法产生：在阳极原子的K层发生电子碰撞，例如：原子电离。由此产生的 空穴，随后由高能的电子填充。这个激发过程所释放的能量