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用于X 射线单晶衍射仪的CCD 和CMOS 技术对比 - Agilent
用于 射线单晶衍射仪的 和
X CCD
CMOS 技术对比
技术概述
前言
(电荷耦合元件)和 (互补金属氧化物半导体)都不算是新技术。事实上,
CCD CMOS
这两种技术已经发明了数十年,CMOS 技术于 1967 年取得专利,比CCD 技术要早两年。
在 射线单晶衍射仪领域通常将多块 芯片拼接在一起以达到更大的有效面积。
X CMOS
1
目前有大量这种类型的芯片,而且多为基于 年前的设计 。
10
在最近的 年中, 技术在化学和大分子晶体学领域的应用已十分普及,被认为是这
10 CCD
些领域中检测系统的最佳选择。现在,CMOS 检测器也开始在晶体学应用领域中有所开
发和应用,在对比这两类技术的时候,有以下一些重要的信息需要参考。
图 蛋白质晶体的 射线衍射图
1. X
样品应用 通常用于某些高能医学成像应用以及消费 太空望远镜),以及高端的专业型数码单
型到专业型数码相机。CCD 芯片的生产规 反相机和数字媒体格式相机(如,莱卡和
在成本方面,CMOS 芯片较CCD 低廉,
模较小,它们通常用于更专业的高性能应 哈苏生产的相机)。图 是 芯片和
2 CCD
这是因为 CMOS 芯片的生产规模更大,
用领域。例如,天文成像系统(如,哈勃 CMOS 芯片的成像应用实例。
并大量用于消费级电子产品。CMOS 芯片
A. 低剂量、高反差应用 B. 高剂量、低反差应用
2 3
图 ()典型的 芯片应用,如天文成像 和专业级数字媒体格式相机 。( ) 芯片的应用,
2. A CCD B CMOS
如医学成像和消费型数码相机
2
表 检测器的性能在晶体学中意味着什么
1. 在 射线晶体学中的整体性能
X
芯片具有高增益和 位的动态范
CCD 18
读出噪音
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