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单片机实验报告（二）外部中断 0 实验实验指标学习外部中断技术的基本使用方法。掌握中断处理的编程方法。实验总体设计方案1.中断服务程序入口地址两相邻中断服务程序起始地址之间只相距8个字节，而一般服务程序长度会超过8个字节，为了避免和下一个中断地址相冲突，常用一条跳转指令，将程序转移到以外的某一区间。2.由于中断服务程序要使用有关的寄存器，因此CPU 在中断之前要保护此寄存器的内容，即保护现场，而在中断返回时又要使它们恢复原值，即恢复现场。3.本实验在无中断时（K01为高电平）发光二极管常亮，有外部中断时（K01为低电平），左移。使用HICE软件编写外部中断的程序，再与外部实验箱连接，测试外部中断的效果。中断实验框架图硬件设计P1口：P1口的结构最简单，用途也最单一。仅仅只作为普通的数据输入/输出（I/O）端口使用。外部中断0： 在不同型号的片子上引脚不同,但符号是INT0的取非(中断源低电平有效),在主程序中打开中断0后,只要这个引脚来低电平,就会触发中断。1、仿真模式设置：8752模式。2、仿真存储器模式选择：内程序存储器外数据存储器。 3、仿真器p3.6和p3.7短路块设置在 WR/RD 状态。4、P1 口接发光二极管，外部中断 INT0（P3.2）接拨动开关 K01。5、如果是下载式实验仪，在程序装载前，必须使 P3.2 口的拨动开关处于高电平状态。并且不能单步调试，只能连续执行。中断实验原理图实验仿真图软件设计 软件流程图源程序：#include reg51.h#define uchar unsigned char #define uint unsigned int void main (){IE=0x81;//允许中断IT0=0;/外部中断请求0低电平有效loop:P1=0x00;//全亮goto loop;}/*中断服务子程序*/void iint0() interrupt 0 {uchar b,c,i,temp;uint j;temp=0x7f;for(i=0;i8;i++)//右移一位{b=temp(8-i);c=tempi;P1=c|b;for(j=0;j30000;j++);}for(j=0;j30000;j++);P1=0x00;}外部中断 0、外部中断 1 混合使用一．实验指标学习外部中断0，外部中断1的基本使用方法。掌握中断处理的编程方法。二．实验总体设计方案本实验在无外部中断(K01、K02都为高电平)时发光二极管常亮，外部中断0请求中断K01为低电平）时左移，外部中断1请求中断（K02为低电平）时右移。中断实验框架图硬件设计本实验在无外部中断(K01、K02 都为高电平)时发光二极管常亮，外部中断 0 请求中断（K01 为低电平）时左移，外部中断 1 请求中断（K02 为低电平）时右移。如果是下载式实验仪，在程序装载前，必须使 P3.2 口的拨动开关处于高电平状态。并且不能单步调试，只能连续执行。中断实验原理图实验仿真图软件设计 软件流程图中断子程序流程图源程序：include reg51.h#define uchar unsigned char #define uint unsigned intvoid main(){IE=0x85;IT0=0; //外部中断请求0低电平有效IT1=0;//外部中断请求1低电平有效loop:P1=0x00;goto loop;}void iint1() interrupt 2 using 0//定义中断子程序{uchar b,c,i,temp;uint j;temp=0x7f;for(i=0;i8;i++)//右移一位{b=temp(8-i);c=tempi;P1=c|b;for(j=0;j30000;j++);}for(j=0;j30000;j++);}void iint0() interrupt 0 using 0{uchar b,c,i,temp;uint j;temp=0xfe;for(i=0;i8;i++)//左移一位{b=temp(8-i);c=tempi;P1=c|b;for(j=0;j30000;j++);}for(j=0;j30000;j++);}实验总结通过进行外部中断0和1的混合实验，让我对外部中断两种方式的理解更加深刻了。通过进行中断实验。我知道了中断标志interrept是用来定义中断的函数。通过编程对中断进行定义，使两个接口在按下的时候会有不同的效果。保证中断的准确介入.参考书目《外部中断0的使用》《单片机应用技术教程》