透射电镜原理试卷.pptVIP

SrTiO3陶瓷 TEM明场像 SrTiO3陶瓷 TEM暗场像 明场像与暗场像实物图片 * 制样与应用 透射电镜专用铜网 支持膜 超薄碳膜 小于10nm的粒子 微栅 管状、棒状、纳米团聚物 普通碳膜 形貌观察 * * 支持膜的分类 无孔碳支持膜系列 碳支持膜：碳支持膜厚度10-20nm，具有抗热性和导电性，推荐选用230目载网 纯碳支持膜：当必须使用有机溶剂作为分散剂时选择，碳支持膜厚度20-40nm， 适合观察10nm以上的样品，推荐选用400目载网 薄纯碳支持膜：当必须使用有机溶剂或高温下处理的特殊样品，碳支持膜厚度 7-10nm，适合分散性较好，带有机包覆层的核壳结构之类的纳米材料样品 超薄碳支持膜：碳膜厚度3-5nm，适合观察10nm以下，分散性较好的纳米材料， 有孔碳支持膜系列 微栅支持膜：能达到无背底观察的效果，推荐选用230目载网 纯碳微栅支持膜、FIB微栅支持膜 等 非碳材料支持膜 无碳方华膜、镀金、镀锗支持膜 等 透射电镜样品制备方法 材料研究用的TEM试样大致有三种类型： 经悬浮分散的超细粉末颗粒。 用一定方法减薄的材料薄膜。 用复型方法将材料表面或断口形貌复制下来的复型膜。 分散：用超声波分散器将需要观察的粉末在溶液（不与粉末发生作用的）中分散