高压电器 第九章 高压断路器的试验.pptVIP

由于运动速度不同，各波峰之间的距离不相同，波形有疏有密。只要量得两波峰之间的距离Δhi（cm），就可得出该区段内的平均速度： Vi= Δhi /0.01（cm/s）= Δhi （m/s） 根据触头行程和所对应的时间，就可算出各段的平均速度，然后绘出v=f（h）的速度特性曲线。 这种方法十分简便，立即可看出触头运动的全过程，在出厂试验和运行现场广泛采用。 但是它的测量误差大，对运动速度很高的产品不宜采用。 （2）．行程记录器—示波器法测运动特性: 图13-10示出该方法的测量原理和线路图。 行程记录器包括行程板和滑动触头两部分。行程板由厚度相等的绝缘片与导电片相间叠装而成，滑动触头与导电杆（或操作杆）相连接。当串联电阻R1＞R2＞R3，且滑动触头与行程板的导电片逐片接触时，就能在示波图上记录下依次改变振幅的波形图。同样，也可由此而求得断路器的运动特性。 这种方法可记录多种讯号，能比较准确地把多种参数的变化过程同时记录于一张示波图上（见图13-10，b），便于分析比较。但当速度很高时，行程测量板上滑动触头的接触点容易产生弹跳，使波形失真，误差增大。 （3）．电秒表测动作时间 电秒表或周波积算器是一种测量通电时间的仪表。接通时它就开始计数，直到断电为止。它最小的记时单位为一个工频周波，即0.02s。测量断路器的分闸时间、合闸时间以及各断口之间的不同期性等均可采用电秒表法。此法简单，便于在运行现场采用。 其测定动作时间 的原理如图13-11所示。 其中同步接点K应 与操作讯号同时投入， DL即为断路器触头。 （4）．微分式断路器测速仪 a 用一根电阻丝，两端接上直流电源，与断路器动触头相连的一滑动触点可在电阻丝上滑动，那么当断路器分（合）闸操作时，动触头带动滑动触点在电阻丝上移动，用示波器录下电阻丝一端与滑动接点之间的电压，即得到v=f（t）的时间特性曲线。这是将电阻丝上均匀分布的电压用来模拟行程，如图13-12曲线1所示。因为速度v=dh/dt，就是曲线l上各点的斜率。因此，对曲线1上各点求微分，就可得到运动过程中各点的瞬时速度与时间的关系曲线v=f（t），如图13-12曲线2。由于所获得的信号是一个电压信号，只要将该信号经过RC微分电路进行变换，即可直接得到速度随时间变化的关系。 b 微分测速仪就是利用上述原理，从电阻采样，获得行程随时间变化的电压信号，经过微分电路变换，再放大，来得到v=f（t）的关系，由示波器记录。所测速度的数值，可根据用定标装置录取的标准波形，直接从示波图上读得。微分测速仪可分为采样构架、定标装置、微分放大器和电源四个部分。 c 图13-13为用微分测速仪实测的断路器分闸时的关系曲线，曲线1是断路器分闸时行程与时间的关系；曲线2为速度与时间的关系；曲线3为触头分闸信号；曲线4为分闸线圈电流波形。其测量结果比较直观，而且很容易获得触头刚分离时的速度。 第五节 温升试验 温升试验的目的是研究和验证高压电器各部分的发热情况，它是高压电器型式试验之一。除适用于断路器外，同样适用于其他高压电器。 高压电器在正常运行情况下，其任何部分的温升不得超过规定的允许极限值。该数值由国家标准GB763-74给出。 一、温升的测量 l．线圈温升的测量 一般应采用电阻法测量。仅当电阻法不能使用时，才考虑使用其他方法。 电器线圈内部温度的分布沿径向是不均匀的，其最高温度点在线圈内部。测量表面温度的方法不能真实反映线圈内部的温度。而用电阻变化法测量得到的是线圈平均温升，也只能间接反映线圈内部的发热情况。 （1）用电阻法求线圈平均温升的求法： ① 金属导体的电阻随温度变化，即 R=R0（1+aΘ） 式中R —— 温度为0时线圈的电阻（ Ω ）； R0 ——0℃时的线圈电阻（Ω）； a —— 0℃时导线材料的电阻温度系数（1/℃）。对于紫铜为1/234.5，对铝为1/245。 ② 设周围空气温度为Θ01时，测得线圈冷态电阻为R1；线图通电发热至温度Θ2时，测得线圈热态电阻R2，分别代入式（13-9），并求解可得： R2-R1/R1= Θ2 –Θ01/（1/a+ Θ01 ） 整理后 Θ2 = [R2-R1/R1][（1/a+ Θ01 ）+ Θ01 （℃） ③ 如果测热态电阻时周围空气温度变成Θ02，则线圈温升用下式计算 显然，只需测得R1、R2和Θ01、Θ02，即可算出线圈的平均温升。线圈的电阻常用单臂电桥或双臂电桥来测量。 2．电器零部件表面温升的测量： 对除线圈外的电器零部件不同部位的温度应使用合适的温度计或热电偶，放在最热的能测到的部位上进行测量。 用温度计或热电偶进行测量时，应注意下列事项： （l）温度计或热电偶的球泡应