质量数据分析和统计的基本方法（ppt + 20）.pptVIP

SPC统计技术Statistical Process Control磁通品质部;一、质量数据的基本知识;计数值数据 计数值数据是不能连续取值，只能以个数计算的数据。 如不合格品数，缺陷数等;2、总体和样本;样本;3、抽样及抽样方法;常分为以下几种方法：;一般随机抽样法：;顺序抽样法;分层抽样法（又称类型抽样法）;整群抽样法（又称集团抽样法）;4、几个重要的特征数;中位数，用 X 表示;样本方差;标准偏差;标准差σ （Sigma）;5：为什么要应用SPC;6：SPC技术原理;特殊原因 一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差来源。有时被称为可查明原因，存在它的信号是：存在超过控制线的点或存在在控制线之内的链或其他非随机性的情形。 ;毕近利尧找厨嚣妥矾丹翘饺棺耶港遍羔脖树沏圾迅摇乔羞盈枉酥恩宛炽薪质量数据分析和统计的基本方法（ppt + 20）质量数据分析和统计的基本方法（ppt + 20）;二、质量管理七大手法;排列图：将质量改进项目从最重要到最次要进行排列而采用的一种简单图示技术。（见例图）;例：频数表;排列图不良率与累计不良率计算;直方图：用一系列宽度相等，高度不等的矩形表示数据分布的图。 ;直方图统计;第一步收集数据（共100个数据）;第二步：计算极差;第四步：计算组边界和中心值;第五步：制作频数表，必要时可以制作频率表;第六步：按频数/频率画横坐标、纵坐标与直方图;直方图分析;直方图分析;直方图图形;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;直方图分布状态与分析;与公差界限比较分析;直方图总结;控制图：将一个过程定期收集的样本数据按顺序点绘成的一种图形技术，用于判断过程正常或异常的一种工具。（见例图） ;控制图的原理;控制图的控制线;公差界限与控制界限的区别;两类错误;两类错误;计数型数据控制图;n为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。 选择控制图的坐标刻度 选择控制图的坐标刻度 一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 将不合格品率描绘在控制图上 a 描点，连成线来发现异常图形和趋势。 b 在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响过程的异常情况。 计算控制限 计算过程平均不合格品率（P） P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk) ;式中： n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目 n1；nk为每个子组的检验总数 计算上下控制限（UCL；LCL） UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 为平均不良率；n 为样本容量 注： 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之 变化。 2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时， ; 可用平均样本容量 n 代替 n 来计算控制限UCL；LCL。方法如下： A、确定可能超出其平均值 ± 25%的样本容量范围。 B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围 的子组。 C、按上式分别计算样本容量为 n 和 n 时的点的控制限. UCL,LCL = P ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n 画线并标注 过程平均（P）为水平实线，控制限（UCL；LCL）为虚线。 (初始研究时，这些被认为是试验控制限。） ; 过程控制用控制图解释： 分析数据点，找出不稳定的证据（一个受控的P管制图 中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等） 。 超出控制限的点 a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种 或几种： 1、控制