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非晶硅平板探测器介绍 2 非晶硅平板探测器厂家及类型 3 概述 2 1 非晶硅平板探测器 非晶硅平板探测器的主要厂家：TRIXELL、VARIAN、Canon、TOSHIBA SAMSUNG、IRAY等 非晶硅平板探测器的种类：动态平板探测器、固定式平板探测器（静态）、 便携式平板探测器（静态），分无线和有线两种。 非晶硅平板探测器 用途 动态平板探测器主要用于DSA、数字平板小C、动态平板胃肠机等 非晶硅平板探测器 用途 固定式平板探测器主要由于固定式安装的DR。 非晶硅平板探测器 便携式平板探测器主要用于移动DR等 非晶硅平板探测器 平板探测器与X射线的同步几步目前主要有两种： 1、硬件接口同步（外同步），需要通过硬件信号连接完成高压与采集同步。 2、射线接收同步（内同步），无需硬件连接，由探测器接受射线触发采集同步。 谢 谢 * 数字平板探测器 非晶硅平板探测器介绍 2 非晶硅平板探测器厂家及类型 3 概述 2 1 概述 在平板DR数字化摄影中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器 （Flat panel Detector)来实现的,所以平板探测器的特性会对DR图像质 量产生比较大的影响。 选择DR必然考虑到平板探测器的选择，平版探测器的性能指标会对图像 产生很大的影响。 目前市场上存在的平板探测器主要有两种： 非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者 属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。 概述 非晶硒平板探测器主要由非晶硒TFT构成。入射的X射线 使硒层产生电子空穴对，在外加偏压电场作用下，电子和 空穴对向相反的方向移动形成电流，电流在薄膜晶体管中 形成储存电荷量对应于入射X射线的剂量，通过读出电路 可以知道每一点的电荷量，进而知道每点的X射线剂量。 由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以 获得比较高的空间分辨率。 概述 非晶硅平板探测器主要由碘化铯等闪烁涂层与薄膜晶体管（TFT） 构成。它的工作过程一般分为两步，首先闪烁晶体涂层将X射线能量 转换成可见光，其次TFT将可见光转换成电信号，由于在这个过程中 可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响，虽然新工艺中将 闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射，但散射光对空间 分辨率的影响不能完全消除。 概述 影响非晶硅平板探测器的图像质量的因素 -影响非晶硅平板探测器DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和晶体管。 首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE 会产生影响，目前常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。碘化铯 对X线的转换效率要高于硫氧化钆，但是碘化铯的成本比较高，将碘化铯加工成 柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做 涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯。 -其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响，薄膜 晶体管FTF的设计及工艺也会影响探测器的DQE。 -影响非晶硅平板探测器空间分辨率的因素：由于可见光的产生，存在散射现象 ，空间分辨率不仅仅取决于对散射光的控制技术。总的来说，间接转换平板探 测器的空间分辨率不如直接转换型平板探测器高。 概述 影响非晶硒平板探测器的图像质量的因素 -X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对，DQE的高低取决于 非晶硒产生的电荷能力。 -由于没有可见光的产生，不发生散射，空间分辨率取决于单位面积内薄膜晶体 管矩阵大小，矩阵越大薄膜晶体管的个数越多，空间分辨率越高，随着工艺的 提高可以做到很高的空间分辨率。 概述 量子检测效率DQE与空间分辨率的关系 -对于同一种平板探测器，在不同的空间分辨率时，其DQE是变化的，极限的 DQE高，不等于在任何空间分辨率时DQE都高，DQE的计算公式如下： DQE=S2*MFT2/NSP*X*C S：信号平均强度，MFT是调制传递函数，X是X线曝光强度，NPS是系统噪声 功率谱，C是X线量子系数。 从公式可以看出在不同的MTF值中对应不同的DQE，也就是说在不同的空间分 辨率时有不同的DQE。 概述 -非晶硅平板探测器的极限DQE比较高，但是随着空间分辨率的提高，其DQE 下降得较多，而非晶硒平板探测器的极限DQE不如非晶硅平板探测器高，但是 随着空间分辨率的提高，其DQE反而超过了非晶硅平板探测器。 -这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强，而非晶硒 平板探测器在区分细微结构差异的能力较高。 非晶硅平板探测器 DQE 曲线 非晶硒平板探测器 DQE 曲线 概述 由于DQE影响图像的对比度，空间分辨率影响图像对细节的分辨能力，在临