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- | 2003-10-29 颁布
- | 2004-05-01 实施
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GBT4956—2003磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法
ICS25.220.40
A 29
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T4956-2003/ISO2178:1982
代替GB/T4956-1985
磁性基体上非磁性覆盖层
覆盖层厚度测量 磁性法
Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-
Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod
(ISO2178:1982,IDT)
2003-10-29发布 2004-05-01实施
中 华 人 民 共 和 国 发 布
国家质量监督检验检疫 总局
GB/T4956--2003/ISO2178:1982
.J-
目 目. ....
.....
前 门
本标准等同采用 ISO2178:1982((磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法))(英文
版)
本标准代替GB/T4956-1985((磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法》。
本标准根据 ISO2178:1982作如下编辑性修改:
a)用 “本标准”代替“本国际标准”;
b) 取消了国际标准的前言;
c) 为便于使用,引用了采用国际标准的国家标准;
d)增加了规范性引用文件。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会归口。
本标准负责起草单位:武汉材料保护研究所。
本标准参加起草单位:浙江乐清市新丰企业有限公司。
本标准主要起草人:喻晖、钟立畅、冯永春、贾建新、郑秀林。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
--一 T(B/T4956一 1985。
GB/T4956-2003/ISO2178:1982
磁性基体上非磁性覆盖层
菠盖层厚度测t 磁性法
范围
本标准规定了使用磁性测厚仪无损测量磁性基体金属上非磁性覆盖层 包(括釉瓷和搪瓷层)厚度的
方法。
本方法仅适用于在适当平整的试样上的测量。非磁性基体上的镍筱盖层厚度测量优先采用
GB/T13744规定的方法。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注 日期的引用文件,其随后所有
的修改单 不(包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注 日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T12334 金属和其他非有机覆盖层 关于厚度测量的定义和一般规则 i(dtISO2064)
GB/T13744 磁性和非磁性基体上镍 电镀层厚度的测量 (eqvISO2361)
3 原理
磁性测厚仪测量永久磁铁和基体金属之间的磁引力,该磁引力受到覆盖层存在的影响;或者测量穿
过菠盖层与基体金属的磁通路的磁阻。
4 影响测f准确度的因素”
下列因素可能影响覆盖层厚度测量的准确度。
4.1 班盖层厚度
测量准确度随覆盖层厚度的变化取决于仪器的设计。对于薄的覆盖层,其测量准确度与覆盖层的
厚度无关,为一常数;对于厚的覆盖层
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