测试手机功放相位和幅度时间变化曲线须知某个放大器设计能够适用.DOC

测试手机功放相位和幅度时间变化曲线须知 某个放大器设计能够适用于多种手机应用，只要其非线性度可以测量出来并用适当的校正因子进行校正。 放大器设计的重利用是移动通信设计工程师在开发新网络时用以尽可能地降低制造材料成本的一种常用方法。例如，为GSM和GPRS开发的同一功放(PA)也可用于EGPRS应用中。不过，与GSM和GPRS不同，EGPRS对功放的非线性很敏感，非线性会大大降低EGPRS手机的性能。开发者要在EGPRS中使用GSM功放，就必须加入校正因子来补偿放大器的非线性。这些校正因子对应于相位和幅度的时间变化曲线，它们在生产测试时也需要用来确保EGPRS手机正常发射信号。 手机制造商可通过以下两种校正方法将必要的相位和幅度时间变化曲线(PAvT)测量引入生产测试：1)使用测试设备的外部校正；2)在放大器的PCB上使用附加的元件进行内部自校正。 制造商在选择校正方法时需要权衡购买测试解决方案(或升级现有测试仪器)的最初成本和因引入附加元件而引起的材料成本以及更多的PCB空间需求。对于更在意PCB板空间和已经在生产线上使用测试仪器的制造商来说，外部校正方法提供了一种高效和性价比高的解决方案。 为了在外部进行PAvT测量，制造商需要具备高速度、高精度和也许最重要的灵活性的测试仪器，以在它们的手机逐步演进时优化功放设计。它们也需要手机芯片组供应商的专有软件，这可在与芯片组供应商签署的