低能高电荷态Ar ( q = 12 ,13) 离子诱发钼L 壳层X 射线强度的研究.PDF

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2017-08-05 发布于天津
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低能高电荷态Ar ( q = 12 ,13) 离子诱发钼L 壳层X 射线强度的研究

第 24 卷　第 4 期原　子　与　分　子　物　理　学　报 Vol. 24 　No. 4 2007 年 8 月 JOURNAL OF A TOMIC AND MOL ECULAR PHYSICS Aug. 2007 文章编号 : (2007) 低能高电荷态 Ar q + ( q = 12 ,13) 离子诱发钼 L 壳层 X 射线强度的研究 1 1 1 1 1 1 1 2 徐进章 ,杜　娟 ,徐　徐 ,陈熙萌 ,胡碧涛 ,邵剑雄 ,崔　莹 ,杨治虎 , 1 1 2 3 1 张红强 ,张　毅 , 肖国青 ,张小安 ,王博宇 ( 1. 兰州大学核科学与技术学院 ,兰州 730000 ; 2. 中国科学院近代物理研究所,兰州 730000 ; 3. 咸阳师范学院 ,咸阳 713000) 摘　要 : 本文报导了低能高电荷态 Arq + (q = 12 ,13) 离子诱发的钼 L 壳层 X 射线强度随入射粒子能量的变化趋势 ,研究表明当入射粒子能量高于 220 keV 时 ,钼 L 壳层 X 射线强度有明显增加的的趋势. 同时 ,我们提出了一个简单的模型去估计这种趋势随入射能量的变化. 模型计算的结果与实验值符合的比较好. 关键词 : L 壳层 X 射线 ;钼 ;氩离子 ;低能高电荷态中图分类号: 0562. 4 　　　文献标识码 : A L shell Xray intensity of Mo bombarded by slow highly charged Ar q + ( q = 12 , 13) ions 1 1 1 1 1 1 XU Jinzhang , DU J uan , XU Xu , CHEN Ximeng , HU bitao , SHAO Jianxiong , 1 2 1 1 2 CU I Ying , YAN G Zhihu , ZHAN G Hongqiang ,ZHAN G Yi , XIAO Guoqing , 3 1 ZHAN G Xiaoan ,WAN G boyu ( 1. School of Nucle