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低能高电荷态Ar ( q = 12 ,13) 离子诱发钼L 壳层X 射线强度的研究
第 24 卷 第 4 期 原 子 与 分 子 物 理 学 报 Vol. 24 No. 4
2007 年 8 月 JOURNAL OF A TOMIC AND MOL ECULAR PHYSICS Aug. 2007
文章编号 : (2007)
低能高电荷态 Ar q + ( q = 12 ,13) 离子诱发钼 L 壳层
X 射线强度的研究
1 1 1 1 1 1 1 2
徐进章 ,杜 娟 ,徐 徐 ,陈熙萌 ,胡碧涛 ,邵剑雄 ,崔 莹 ,杨治虎 ,
1 1 2 3 1
张红强 ,张 毅 , 肖国青 ,张小安 ,王博宇
( 1. 兰州大学核科学与技术学院 ,兰州 730000 ; 2. 中国科学院近代物理研究所,兰州 730000 ;
3. 咸阳师范学院 ,咸阳 713000)
摘 要 : 本文报导了低能高电荷态 Arq + (q = 12 ,13) 离子诱发的钼 L 壳层 X 射线强度随入射粒子能量的变
化趋势 ,研究表明当入射粒子能量高于 220 keV 时 ,钼 L 壳层 X 射线强度有明显增加的的趋势. 同时 ,我们
提出了一个简单的模型去估计这种趋势随入射能量的变化. 模型计算的结果与实验值符合的比较好.
关键词 : L 壳层 X 射线 ;钼 ;氩离子 ;低能高电荷态
中图分类号: 0562. 4 文献标识码 : A
L shell Xray intensity of Mo bombarded by slow highly
charged Ar q + ( q = 12 , 13) ions
1 1 1 1 1 1
XU Jinzhang , DU J uan , XU Xu , CHEN Ximeng , HU bitao , SHAO Jianxiong ,
1 2 1 1 2
CU I Ying , YAN G Zhihu , ZHAN G Hongqiang ,ZHAN G Yi , XIAO Guoqing ,
3 1
ZHAN G Xiaoan ,WAN G boyu
( 1. School of Nucle
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