ADC实验概要1.docVIP

课程名称：Zigbee技术及应用 实验项目： ADC实验 指导教师： 专业班级： 姓名： 学号： 成绩： 一、实验目的： (1)了解ADC采集原理； (2)熟悉ADC相关寄存器配置和使用方法； (3)掌握CC2530芯片内温度检测方法；使用ADC进行片内温度单次采样，将采集的电压值转换成温度值，通过串口打印至PC机； 二、实验过程： （1）根据实验目的分析实验原理； （2）根据实验原理编写C程序； （3）编译下载C程序，并在实验箱上观察实验结果。 三、实验原理： 3.1硬件原理 3.1.1 ADC概述 CC2530芯片ADC结构框图如图4-1所示。 图3-1 ADC结构框图 CC2530的ADC 的主要特征如下： ( ADC转换位数可选，8到14位； ( 8个独立的输入通道，单端或差分输入； ( 参考电压可选为内部、外部单端、外部差分或AVDD5； ( 中断请求产生； ( 转换结束时DMA触发； ( 温度传感器输入； ( 电池电压检测。 通常A/D转换需要经过采样、保持、量化、编码四个步骤。也可以将采样、保持合为一步，量化、编码合为一步，共两大步完成一次A/D采集。 采样是对连续变化的模拟量进行定时的测量，采样结束后将测量的值保持一段时间使ADC设备有充分的时间进行A/D转换，即量化编码过程。 要将一个采样后的数据进行量化编码，就必须在采样之前将要被采样的信号划分不同等级。例如本实验要读取片上温度的值，实际上ADC读取的值为电压值。我们首先要将能读到的最大电压值1.25V（这个被划分等级的电压值就是ADC的参考电压）划分为1024个等级（这里的等级就是ADC的抽取率即分辨率），等级划分的越细及量化的越细。我们最后编码得到的电压值越准确。 编码是将读取到的电压值与划分好等级的电压值比较，与哪个电压值最接近就采用哪个电压值对应的等级来表示。例如我们读到的电压值为0.12203V，这个值与等级为100的电压值0.001220703125最接近。则我们此次ADC读取到的数据最后量化编码后的值为100。最后我们根据CC2530用户手册的说明，计算得出温度值。 3.1.2 CC2530 ADC特点 本实验使用CC2530的片上温度传感器读取温度的ADC值。数字转换结果以2的补码形式表示。 3.2程序设计原理 3.2.1主程序分析 本实验的程序流程如图4-2所示，其重点是内部温度传感器的连接使能与ADC配置。 图3-2 程序逻辑流程图 3.2.2 ADC寄存器配置 本次实验配置的寄存器有：TR0，ATEST，ADCCON1，ADCCON3。 TR0 (0x624B) –测试寄存器 0 位号码 名称 复位 R/W 描述 7:1 - 0000 000 R0 保留。写作0。 0 ACTM 0 R/W 设置为1来连接温度传感器到SOC_ADC。也可参见ATEST寄存器描述来使能19.15.3节的温度传感器 ATEST (0x61BD) –模拟测试控制 位号码 名称 复位 R/W 描述 7:6 - 00 R0 保留。读作 0 5:0 ATEST_CTRL[5:0] 00 0000 R/W 控制模拟测试模式： 00 0001：使能温度传感器（也可见 12.2.10 节 TR0 寄存器描述） 。 其他值保留。 ADCCON1 (0xB4)–ADC 控制 1 位号码 名称 复位 R/W 描述 7 EOC 0 R/H0 转换结束。当 ADCH 被读取的时候清除。如果已读取前一数据之前，完成一个新的转换，EOC 位仍然为高。 0： 转换没有完成 1： 转换完成 6 ST 0 开始转换。读为1，直到转换完成 0： 没有转换正在进行 1 ： 如果 ADCCON1.STSEL = 11并且没有序列正在运行就 启动一个转换序列。 5:4 STSEL[1:0] 11 R/W1 启动选择。选择该事件，将启动一个新的转换序列。 00： P2.0引脚的外部触发。 01： 全速。不等待触发器 10： 定时器1通道0比较事件 11： ADCCON1.ST = 1 3:2 RCTRL[1:0] 00 R/W 控制 16 位随机数发生器（第 13 章）。当写 01 时，当操作 完成时设置将自动返回到 00。 00： 正常运行。(13X 型展开) 01： LFSR 的时钟一次(没有展开). 10： 保留 11： 停止。关闭随机数发生器 1:0 - 11 R/W 保留。一直设为 11 。 ADCCON3 (0xB6)–ADC 控制 3 位号码 名称 复位 R/W 描述 7:6 EREF[1:0] 00 R/W 选择用于额外转