电子能谱分析概要1.pptVIP

1.1.7 光电子特征峰伴峰 (1) 震激 ( Shake up )和震离 ( Shake off ) (2) 能量损失 ( Energy loss ) (3) 等离子振荡(plasmon) (4) X射线伴峰 (X-ray satellites ) (5) 多重分裂 (Multiplet splitting ) (6) 俄歇电子 (Auger electron ) 1.1.8 非导电样品的荷电校正 克服校正荷电效应的方法： 1.3.5 样品制备 Auger电子能谱手册中给出了各种原子不同系列的Auger峰位置。 每种元素的各种Auger电子的能量是识别该元素的重要依据。 2.1.4 化学位移与伴峰 电子枪 电子能量分析器 X射线光电子标准谱图示例 定性分析时，必须注意识别伴峰和杂质、污染峰(如样品被CO2、水分和尘埃等沾污，谱图中出现C、O、Si等的特征峰)。 定性分析时一般主要依据元素的主峰(该元素最强最尖锐的特征峰)。 自旋-轨道分裂形成的双峰结构情况有助于识别元素。特别是当样品中含量少的元素的主峰与含量多的另一元素非主峰相重叠时，双峰结构是识别元素的重要依据。 Cr、Fe合金活塞环表面涂层X射线光电子能谱分析表明，该涂层是碳氟材料。 1.3.2 定量分析 方法：理论模型法、灵敏度因子法、标样法等。 应用最广的是元素(原子)灵敏度因子法。定量结果的准确性比俄歇能谱相对灵敏