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如何选择和使用近场探头 进行电磁干扰分析 电磁干扰的故障诊断分析 一近场探头的选择与应用 技术论文 图一 安捷伦X系列信号分析仪和N9311X-100近场探头 概述 如果一个新产品在电磁干扰( EMI)预兼容测试或者标准兼容测试中失败， 进行故障诊断和改进是当务之急。而近场探头配合频谱分析仪查找干扰源，并 验证改进效果是最常见易行的方法。 近场测试综述 在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄露测试，都是进行的 远场测量。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符 合相应的 EMI 标准。但是远场测试无法告诉工程师，严重的辐射问题到底是来 自于壳体的缝隙，还是来自连接的电缆，或USB，LAN之类的通信接口。在这种 情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。 近场EMI测量的问题在于使用近场探头的测量结果和使用天线进行远场测 量的结果无法直接进行数学转换。但是存在一个基本原理：近场的辐射越大， 远场的辐射也必然越大。所以使用近场探头测量，实际上是一个相对量的测 量，而不是精确的绝对量测量。使用近场探头进行 EMI 预兼容测试时，我们常 常把新被测件测试结果和一个已知合格被测件的近场探头测试(近场测试)结果 进行比较，来预测EMI辐射泄漏测试(远场测试)的结果，而不是直