电化学反应的椭圆偏振光谱分析方法研究的进展.PDF

199O年 9月 束 J走 火 学 学 报 ． Vo1．1 3，№ ．。 第1 3卷第5期 1OURNAL OF CttONGQ1NG UNIVERSITY Sep．1 9 90 电化学反应的椭圆偏振光谱分析 方法研究的进展 THE PROGRESS OF SPECTROELLTPSOMETRIC INVESTIGATION FOR ANALYZING ELECTR0CHEMICAL REACT10NS 黄 宗 霸 谢 上 芬 张 胜 涛 Huang 2ongqing Xie Shangfen Zhang ShengtaO (化工学院) 摘 篓 介绍作者等由实验结果提出均建立研究电化学反应的椭圆偏振光谱新 方法的设想，并在一系列实验中证实了实现最初设想的可能性。最近在不同波长下 进行了铁阳极氧化过程、聚苯胺膜电变色的氧化还厚过程等所得光谱圈的实验结果 表明；建立新的椭圆偏螽光谱方法的实验基础已经具备。 关键词 椭吲偏振技术 }I=fi『 偏振光谱； 檄氧化 中国图书资料分类法分类号 0646 ABSTRACT This paper desc ribes the initial idca of building up a new approach nf spectmscopic elllpsomet~y如T stu4ying electrochemical reaction r。m $onqe 0± the author S experimental resulI s on ellipsometty． The results which have proved the possibility of this idea is also P resented．The study on allodie oxidation of i ron and the oxidation and reduction processes of polyaniline film by ellipsometry with different wavelength show that the cIlipsometric spect roscopy might be a new method ／or alia— lyzing electrochemical reactions． KEY WORDS ellipsorretry；ellipsometrie spect roscopy；anodic oxidation 0 引言 椭圆偏振技术用于研究固体表面薄膜的厚度和光学参量 在物理、半导体和腐蚀科学等 领域已应用达五十年以上。近年来不少人义将其用于研究电化学反应 1]．也有人企图将它 作为r种光请方法应j=『{1 研究jn化学和材料科学(2，0)。但文献报道仍局限子研究直接测得 的位相差 或相对振幅比 与波长的单值幽数关系，而单纯用 (或p)与波长的关系似尚不能 牧文 日期 1 990—02-07 ’ 目家自然科学基金资助项目 获得中科院长春应化所电 析化学开放研究实验室资助 92 重 庆 大 学 学 报 1990年 完全反映袭面薄膜物化特性上的若干客观规律．故迄今此种单值函数关系的研究尚未见有 显的进展． ’ 一 研究碱性溶液中铁的氧化还啄反应时，萤糸卿与0r 曾绽巍：蚀在氧化逐顷过程中不同 价态的变化，除反魄在审位一时州曲线上有不同转 点之外 『 讨在 参 和 的变化 曲线~tit有对应的转变点或某些特征的变化规律。 在文献(4) ‘先抛 了光学参量变化 速率(c tical