氢化物—原子荧光光谱的理论基础 - 仪器信息网.ppt

氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 ?在19世纪后期 和20世纪初期，物理学家就研究过原子荧光现象，创立了著名的马氏试砷法。 ? 1956年，Alkemade用AF研究了火焰中的物理和化学过程。 ? 1962建议将AF用于化学分析。 ? 1964年，温福德纳（J.D.winefordner)和维克斯(T.J.vicker)提出并论证了AF火焰光谱法可作为一种新的分析方法。 ? 1964年后，特别是美国的 winefordner小组和英国的west小组对AFS 进行了广泛的研究和改进。 ? 1969年加拿大学者霍拉克（W.Holak）首先创立了氢化物-火焰原子吸收光谱法测定砷。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 ? 在1974年Tsujii和Kuga把氢化物发生进样技术与无散原子荧光分析技术相结合, 首次实现该分析技术。 ? 1977年建立了无极放电灯为光源的无色色散原子荧光实验系统。 ? 70年代, 我国提出了利用KBH4与酸反应产生的氢气来产生氩氢小火焰, 大大简化了仪器装置 ? 80年代中期，这种很有潜力的技术基本上停止不前。 ? 80年代中期，在研究脉冲供电的空心阴极灯特性的基础上,试制成功供原子荧光用的空心阴极灯。 ? 现在, 随着流动注射技术、断续流动技术先后引入氢化物发生系统，仪器自动化程度有了很大的提高。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 光学分析法及其分类 光学分析法可分为两大类 ?光谱法 ?非光谱法。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 光谱法 是基于物质与辐射能作用时，测量由物质内部发生量子化的能级之间的跃迁而产生的发射、吸收或散射辐射的波长和强度进行分析的方法。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 光谱法 ?原子光谱法 ?分子光谱法 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 原子光谱法 是由原子外层或内层电子 能级的变化产生的，它的表现形式为线光谱。  氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 原子光谱法分析方法 ? 原子发射光谱法（AES） ? 原子吸收光谱法（AAS） ? 原子荧光光谱法（AFS） ? X射线荧光光谱法（XFS）等。 Flame Atomic Absorption Spectrometer Emission Flame Photometer Fluorescence Spectrometer 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 分子光谱法 是由分子中电子能级、振动和转动能级的变化产生的，表现形式为带光谱。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 分子光谱法分析方法有 ? 紫外-可见分光光度法（UV-Vis） ? 红外光谱法（IR） ? 分子荧光光谱法（MFS） ? 分子磷光光谱法（MPS）等。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 非光谱法 是基于物质与辐射相互作用时，测量辐射的某些性质，如折射、散射、干涉、衍射、偏振等变化的分析方法。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 一、发射光谱法 物质通过电致激发、热致激发或光致激发等激发过程获得能量，变为激发态原子或分子M* ，当从激发态过渡到低能态或基态时产生发射光谱。M* →M+ hv  通过测量物质的发射光谱的波长和强度进行定性和定量分析的方法叫做发射光谱分析法。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 根据发射光谱所在的光谱区和激发方法不同，发射光谱法分为： 1. 发射线光谱法 天然或人工放射性物质的原子核在衰变的过程中发射?和?粒子后，使自身的核激发，然后核通过发射?射线回到基态。测量这种特征?射线的能量（或波长），可以进行定性分析，测量?射线的强度（检测器每分钟的记数），可以进行定量分析。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 2.X射线荧光分析法  原子受高能辐射激发，其内层电子能级跃迁，即发射出特征X射线，称为X射线荧光。用X射线管发生的一次X射线来激发X射线荧光是最常用的方法。测量X射线的能量（或波长）可以进行定性分析，测量其强度可以进行定量分析。 氢化物—原子荧光光谱的理论基础 概 述 3. 原子发射光谱分析法 用火焰、电弧、等离子炬等作为激发源，使气态原子或离子的外层电子 受激发发射特征