算法设计与分析（王多强）算法设计与分析 二.pptVIP

例2.9 递归式 不能用主方法求解 分析：这里，a=2，b=2， ， 且，f(n)=nlogn 渐进大于 第三种情况成立吗？ 事实上不成立，因为对于任意正常数ε， 不满足 (这里要求 )。 因此该递归式落在情况二和情况三之间，条件不成立，不能用主定理求解。 nx (log n)y nx+ε 为什么主定理是正确的？ 主定理证明：（略，P45） 注：在使用主定理时不用证明其正确性。 还有没有其它方法？ 4）直接化简 根据递推关系，展开递推式，找出各项系数的构造规律（如等差、等比等），最后得出化简式的最终形式。 如：T(n)=2T(n/2) +2 =2(2T(n/ 22) + 2) + 2 = 22 T(n/ 22) + 22 + 2 … =2k-1T(2) + =2k-1+2k-2 =3n/2-2 例：化简递归式 习题 阅读：算法导论前3章，算法基础2-3章 (4.1-1) 解递归式 (4.1-6) 通过改变变量求解递归式 。得到的解 应是紧确的。 (4.2-2) 利用递归树来证明递归式 的解是 ，其中c是一个常数。 (4.3-1) 用注方法来给出下列递归式的紧确渐近界： a) T(n) = 4T(n/2) + n b) T(n) = 4T(n/2) + n2 c) T(n) = 4T(n/2) + n3 (4.3-4) 主方法能否应用于递归式T(n)=4T(n/2)+n2logn？ 为什么？给出次递归式的渐近上界。 给出下列递归式的渐近上下界。假设n足够小时T(n)是常数。使所给出的界尽量紧确并给出证明。 VLSI芯片测试： Diogenes 教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可以测试2片，当装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片做测试并报告其好坏，一个好的芯片总能报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的结果可能结果如下：???? A芯片的报告???????? B芯片的报告??????????? 结论?? －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－?? B是好的????????? ?? A是好的????????? ?? 都是好的，或都是坏的?? B是好的???????????? A是坏的????????? ?? 至少一片是坏的?? B是坏的???????????? A是好的????????? ?? 至少一片是坏的?? B是坏的???????????? A是坏的????????? ?? 至少一片是坏的a) 那么如果有多于n/2的芯片是坏的，无论用什么策略都不能确定哪个 芯片是好的。（假设坏芯片可以联合起来欺骗教授）b) 如果有多于n/2的芯片是好的，则可以通过[n/2]对测试就足以使问题 的规模降至近原来的一半；c) 如果有多于n/2的芯片是好的，则可以用Θ(n)对的测试找出好的芯片。 a)比较显然.略. b)本题要求证明 n/2 对测试就能使问题的规模降至近原来的一半.所以要考虑的是怎么降低待测芯片的规模,而且还能继续可解.也就是需证明剩下的近一半中,仍然有多于1/2 的芯片是好的. 分两种情况讨论: I）如果 n 是偶数,则把它为成 n/2 对.分别测试每一对.如果出现结果2,3,4.则将两片都暂时搁置.如果是结果1,则随意把其中一片搁置.因为有大于1/2 的芯片是好的,所以肯定总是能出现结果为1的一对芯片.设好的芯片 有 k 个,坏芯片 n-k个,分对时有 r 个坏芯片跟好芯片分成一对. kn-k≥r. 则剩余的好芯片为 (k-r)/2, 剩余的坏芯片至多为 (n-k-r)/2,(当每对坏芯片相遇结果都是1的时候).显然 (k-r)/2 (n-k-r)/2 .得证. II）如果 n 是奇数,则先提一片(设代号为A),剩下的n-1片变为偶数,这在n-1片中,有好片≥坏片,然后按偶数的情