异质结双极型晶体管 HBT 的高频特性 - 硬件和射频工程师.PDF

异质结双极型晶体管 HBT 的高频特性 - 硬件和射频工程师.PDF

  1. 1、本文档共21页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
异质结双极型晶体管 HBT 的高频特性 - 硬件和射频工程师

第十四讲——异质结双极型晶体管 l HBT 的高频特性 (13 讲的继续) 小信号线性等效电路 高频极限——ωT,ωmax,ωV l HBT 的数字应用 基本HBT 逻辑系列 l HBT 的线性电路数字应用 例子:Vitesse VIP- 1 InP HBT HFET伏安特性——HEMT和HIGFET 如以前一样,我们把y 点的漏极电流写作: 我们已经确定了Nch(y) ,可将低到中场区的平均净载流子速度写作: 由上两式得: 将上式对y从0到L积分,或者等效地,对VCS从0到VDS 积分,结果在下一页中给出 HFET伏安特性——HEMT和HIGFET (续) 积分的结果为: 这个表达式在VDS(VGS -VT ) 的情况下成立,当VDS(VGS -VT ) 时,iD饱和,其值为: 这些表达式应该与MOSFET 的相似。它们与通常使用的MOSFET 的表达式完全相同。 最后,饱和时候的小信号跨导gm 为: HFET伏安特性——HEMT和HIGFET (续) 我们最后关心这些器件的高频特性。一个较好的方法是研究ωT,我们将其写作: 我们还没有确定Cgs ,但我们事实上已经对其有了了解,因为这些器件的Cgs与MOSFET 的相同: 由此式得: (无速度饱和) HFET伏安特性——HEMT和HIGFET ,速度饱和 当存在严重的速度饱和时,我们有S(y)=Ssat ,并记作: 现在我们可以计算得到小信号跨导为: (速度饱和) 这些表达式应该与MOSFET 的相似。它们与通常使用的MOSFET 的表达式完全相同。 最后,饱和时候的栅源电容Cgs就是栅极电容WLWBG /tWBG ,所以: (速度饱和) 高频特性度量:ωT,ωmax 我们引入ωT,定义为短路电流增益为整时的频率,表示为: ωT是高速开关特性的一个很好的度量量,但对于微波应用,更好的度量量是ωmax,源 和负载阻抗匹配时的整功率增益。我们发现这个频率可粗略地由下式给出: 后一个度量量显示了在FET微波放大器应用中减小栅极电阻Rg,和栅-漏电容Cgd 的重要 性。 注意:在讨论HBT 时,我们会引入第三个高频特性度量量ωV 线性等效电路(lec )模型——HBT 除了输入电阻是有限值,和符号不同外,正向工作区偏置BJT 的线性等效电路与FET 的 相同: 用BJT 大信 号模型来求这个模型 中的参量,得到如下表达式: HBT lec模型——高频模型 为了将这个模型推广到高频区,我们引入小信号线性电容来表示存储在栅极的电荷: 我们得到: HBT 本征高频特性度量——ωT 像我们研究FET 是那样,晶体管高频特性的测量是通过计算其短路电流增益βs c(j ω) , 和确定其大小为1时的频率而得到的。 所以: 高频特性度量:ωT,ωmax,ωV 对一个BJT ,我们有ωT,对其用偏置点来表示,并求IC很大时的极限: 我们对FET得到了一个相似的结果,即ωT近似等于穿过器件工作部分的通过时间的倒 数。在我们关于BJT 的简单模型中,这里出现的通过时间是穿过基极的通过时间,但是事实 上,我们发现它其实是从发射极到集电极的通过时间,包括了穿过发射极-基极和基极-集电 极耗尽区的时间: 高频特性度量:ωT,ωmax,ωV 正如对FET来说,ωT是高速开关特性的一个很好的度量量,但对于微波应用,更好的 度量量是ωmax,即源和负载阻抗匹配时的整功率增益。对于BJT ,我们发现ωmax可粗略地由 下式给出: 这个度量量显示了在HBT 微波放大器应用中减小基极串联电阻Rg,和基极-集电极电

您可能关注的文档

文档评论(0)

youbika + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档