CPK原理与在Minitab中应用.pptVIP

CPK原理及在Minitab中的应用;什么是 Cpk?;和Cpk相关的几个重要概念1;USL (Upper specification limit):即規格上限 LSL (Low specification limit): 即規格下限 C：规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值 (n為樣本數) T=USL-LSL 規格公差 ;Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy) Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性; 对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca; 对于双边规格， ;Ca等级评定及处理原则; ;Cp等级评定及处理原则;Cpk=Cp*(1- Ca ); Cpk≦ Cp; Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔;製程能力靶心圖;Cpk等級評定及處理原則;Cpk和制程良率換算;Cpk的計算實例1;X=10.036; s=0.027; Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36; Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239; Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;;總結;CPK在MINITAB中的应用;在应用MINITAB进行过程能力分析之前，先要判定所分析的数据是否服从正态分布，然后再判断其是否稳定。否则所做的CPK没有任何意义。（但这不是绝对的标准）。 如何判断是否服从正态分布 就产线组装段测得Gap值来举例，以下是产线测得的ALG top与base Gap的30个数据 ;启动MINITAB 打开一个工作表 1.选择File→open worksheet 2.在查找范围一栏选表格保存的地址，在文件类型一栏选Excel（*xls） 3. 选择ALG CPK form， 点击打开。 ; 4.Excel表格在MINITAB中打开后，重新再打开一个worksheet表格 选择File →New，在New对话框中选择minitab worksheet，然后点击OK。 ;5.点击Gap measure表格，选中所要选的30个gap值并将其复制到新建的worksheet中。 ;6.Stat →Basic Statistics →Graphical Summary 7.在variables中键入C1，点击OK ;;就机构方面测量上下盖的Gap值不符合正态分布，我们分析一下其原因，可能是因为上盖和下盖本身尺寸就不符合正态分布，所以组成整机后就不符合正态分布了。所以对于机构Team的人，以后试产机种在pilot run前先要要求产线帮我们量一些重点尺寸（一定数量），我们要指定一个人去量，并亲自确认他们的量测手法是否正确，量测时并一一标号，然后分别对所量的上盖和下盖尺寸检验其是否符合正态分布？（如果还是不符合正态分布，可能就要考虑是否是量测手法或是材料尺寸本身出了问题。） 组装时也要指定哪个人要做什么动作，这都要固定。然后再去按所标的号去量手机的GAP值（同样是一个固定的人），如果前面的准备工作都做好，那所量出来的数据应该是满足正态分布的，然后再去算CPK值。 若计算出来的CPK值不理想，比如小于1，那我们就要进行具体的分析（看组装手法是否正确或是其他一些问题了。;若不是正态分布，做CPK就没有意义了。此时需要我们去分析为什么不是正态分布，可能是抽样方法或是抽样数量或是其他一些原因，这里就不再多说。 下面再举一个例子，是WCDMA IMT2000 10563 MAX Output Power （TX）的数据（接carkit测试）测试50次：;和前面的操作一样先检查其是否满足正态分布。;从图中可以看出P＝0.205,所以是正态分布。 当确定了是正态分布后，再进行稳定性检验，Stat →control charts →variables charts individuals→I-MR 由下图知平均值为：21.9078;从图中可以看出同一只手机随着测量次数的增加所测得的数据整体呈上升趋势，因为随着测试时间的变长主板的温度会升高尽而会影响其测试的结果，但从下面的分析结果来看测试次数不同时对其平均值的影响不是很大，而我们要的是平均值。 假如我们只测40次数据，我们再来看其数据的变化趋势： 由下图知平均值为：21.9，与50次的平均值相比只差0.078;以下是测试30次所得数据的变化趋势： 由下图知平均值为：21.896,与40次测得的数据相差0.004 ;以下是测20次时所得的测试数据： 由下图知平均值为：21.887,与30次测得的数据相差0.009;以下是前10次测试的数据的变化趋势： 由下图知平均值为：21.88