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第 33 卷 第 5 期 北 京 化 工 大 学 学 报 Vol. 33 , No. 5 2006 年 JOURNAL OF BEIJ IN G UN IV ERSIT Y OF CHEMICAL TECHNOLO GY 2006 基于单成分被测物体的射束硬化校正算法 1 2 3 叶侠娟 　王一多 　薛 　威 (1 北京印刷学院 , 北京　102600 ; 2 北京化工大学 理学院 , 北京　100029 ; 3 北京化工大学 北方学院 , 河北 燕郊　065201) 摘 　要 : 经典的 CT 重建算法基于 X 射线源为单色源的假设 ,而实际上由于工业 CT 机或医用 CT 机的 X 射线是多 色的 ,通常只能得到多色投影数据。若直接用多色投影数据来重建图像 ,就会出现射束硬化伪迹 ,这种硬化伪迹如 果不校