双层塑料靶丸的X射线相衬成像.pdfVIP

第21卷第10期 强 激 光 与 粒 子 束 VoL21，No．10 LASERANDPARTICLEBEAMS 2009年10月 HIGHPOWER Oct．．2009 文章编号： 1001—4322(2009)lO一1481-04 双层塑料靶丸的X射线相衬成像’ 顾 牡， 李 达， 倪 晨， 刘小林， 刘 波， 黄世明 (同济大学渡耳固体物理研究所，上海市人工微结构材料与技术重点实验室，上海200092) 摘要：为对微聚焦X射线相衬成像技术应用于双层以及多层塑料靶丸成像和特征分析进行可行性研 究，基于类同轴X射线成像技术，综合考虑成像放大倍数、分辨率和衬度等因素，选择合适的实验参数，成功获 得了较为清晰的双层塑料靶丸X射线相衬成像照片；采用数字图像处理技术的图像分割手段，如拉普拉斯高 斯边缘检测法等对所成像中靶丸边界特征进行分析处理，获得了双层靶丸内层厚度为(10．5士0．6)IInl，外层 厚度为(9．2士0．7)弘m，靶丸外径为(273．3士1．o)pm等参数。 关键词：类同轴}X射线；相衬成像；双层靶丸，数字图像处理 中圈分类号：TN249，TL619文献标志码：A 靶丸是激光惯性约束聚变(ICF)实验中存储反应燃料的空心微球，线度在亚mm量级。双层塑料靶丸通 对于靶丸各层的厚度、曲率半径和均匀性等参数的无损测量手段有光学干涉法口]、X射线显微辐射照相法E3。4] 线显微辐射照相法则是利用X射线吸收的衬度机制[6{]，由于塑料等低原子序数材料的X射线吸收衬度较低， 不易分辨其特征；XPCI法的图像强度线性相关于投影电荷密度的二阶微分[5】，在图像上反映为边缘增强效 果，可凸显物质问的边界特征，因而可以成为双层塑料靶丸参数诊断的有效方法。 XPCI法可分为干涉法、衍射增强法和类同轴相衬成像法。前两种方法对成像条件的要求较为苛刻，多在 类同轴法对光源的时间相干性(单色性)要求不高，应用微聚焦X射线光源便可在一般的实验室进行测量。 刘元琼等使用微聚焦光源类同轴XPCI法对参数已知的单层靶丸成像，能清晰辨别出靶丸球壳与空气的边 界E引。双层靶丸两球层间彼此的材质差异往往不如单层与空气明显，然而，鉴于双层及多层靶丸应用的发展趋 势以及类同轴XPCI法对X射线光源要求较低的独特优势，有必要利用微聚焦X射线光源对双层乃至多层靶 丸类同轴XPCI法的可行性、实验参数对图像的影响以及数字图像处理技术等加以研究。本文基于类同轴 XPCI法，使用微聚焦X射线光源，通过提高相位衬度获得了较清晰的双层靶丸边界图像，利用数字图像处理 技术，得到了靶丸参数。 1 实验方法 影响类同轴x射线相衬成像质量的主要因素有空间分辨率和相位衬度，鉴于塑料靶丸可引起的X射线吸 收和相位变化较弱，为了便于分析并使物理图像更为简单明了，本文主要采用PWG理论并结合X．Wu的普 遍适用理论分析影响上述因素的实验参数。对所得到的图像选取了合适的数字图像处理方法。 1．1 焦斑和成像距离对分辨率的影响 文献E143中指出，当光源的焦斑大小e一定时，类同轴成像的空间分辨率，可以通过增加光源到物体的距离优 化。为探讨成像距离对成像质量的影响，X．Wu给出了普遍适用的微聚焦X相衬成像法系统的光学传递函数 (OTF)的定义Elz] *收稿日期：2009—02—27；修订日期：2009—06—17 作者简介：顾dd：(1961一)，男，博士。教授，博士生导师．主要从事固体发光(闪烁)材料的研究；mgu(萤tongji．edu．cn。 万方数据 强 激 光 与 粒 子 束 第21卷 l，(剐)I：盟区咝二坠堑型幽(1) 艇(M一1)~／“2+可2／M 式中：￡是焦斑直径；J。(z)为一阶贝塞尔函数；U，口为物 体的空间频率，单位为弘m～；放大倍数M=(R。+R：)／ R，，其中尺。为光源到物体的距离，R2为物体到探测器的 距离。 式(1)中因子(M一1)／M=R。／(Rl+R2)