全反射X—射线荧光光谱的原理与应用.pdf

维普资讯 分 析 化 学 1994．22(4)l406~414 评述与进展 FENXI HUAXUE (ChineseJournalofAnalyticalChemistry) 全反射 x一射线荧光光谱的原理和应用 一 螂 (…中国有…色金属一工业总公点司矿氅产地质…研究院，桂林林541004)’√／’／ · “ 、 ， rJ ／ 《 摘 要 本文综述叠反射 x．射线荧光光谱分析的进展、原理、仪器和应用 。参考文献67篇。 · 关键词 叠反射X射线荧光光谱 ，评述 ． 1 引 言 作者 曾简要地介绍过全反射X一射线荧光 (TxRF)光谱分析 ”。但近十年来 ，TXRF已取得 了许多惊 的成就a理论 日益完整 ·检出限 日益降低 ，准确度 日益提高 ，分析范围日益扩大 ，实 际上TXRF已戚 了一个重要的分析工具 。本文分进展、原理、仪器和应用四部分进行综述 。 2 进 展 1971年Yoneda等 首先将全反射现象用於 XRF分析。1975年 Wobrauschek等 设计 了第一台TXRF装置 其后这门创造性的技术 ，仪器不断改进 ，应用逐渐推广 ，因而 日益引起 了人们的重视。1984年 33届美国丹佛 x射线分析应用年会上，重点讨论了TXR,F的仪器 ，检 出限和应用等问题 “，给分析界以探刻的印象，普遍认为TXRF有许多优点．需要进一步研 究。1986年德国GKSS研究中心发起和组织了第一届TXRF专题讨论会 。会上提出了用 TXRF测定低 z元素，发展带真空测量室的无窗系统，指 出EXTRAI型TXRF光谱仪代表 当时的技术水平 ，直接分析生物样品的冰冻切片是最引人注意的问题。1988年在德国多特蒙 德举行了第二届TXRF专题讨论会 “，有70多个本国和国际代表参加。会上报告和讨论了进 ， 一 步发展TXRF的仪器和方法以及在徽痕量分析中的应用。共发表论文 l4篇，光谱化学学报 为会议出版了专辑。。1990年在奥地利维也纳举行了第三届TXRF专题讨论会，共发表论文 ． 15篇，介绍了TXRF的发展历史和基本理论 ，提 出了TXRF用于薄层分析、超痕量分析和 稀土元素分析。与此同时国外许多重要刊物上发表了不少专论 ”，评述了TXRF的现状和 进展。最近美国分析化学杂志以最显著的位置发表了Klockenkamper等的重要综述 。事实 说明，近几年来 TXRF确是突飞猛进 ，在工农业生产、地质勘探、环境保护、科学研究等部门得 到 了广泛的应用 。 TXRF 有两个重要 的优点：(1)背景很低 ，峰背 比高。元素分析 的检 出限可达 pg 级：’ ” ，表面分析的检出限可达 10 “原子 cm 。 ”(2)由于入射角和反射角都很小，穿 透深度很浅，基体效应基本消除．此外准确度也比较高，高纯酸的杂质分析，RSD为3 “。分 析元素的范围可从原子序数 11(Na)到92(U)。如果采用超薄窗探测器和无窗X射线管，还可 测定轻于Na的元素。”。TXRF与同步辐射 (sR)源结合 ，优越性更大。“”。由于这些原因， 收稿。1993．04．26I修改璃i19~9．07．05．