存储器的测试技术.PDFVIP

　王健等 :存储器的测试技术 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 25　　　 存储器的测试技术 Testing Techni ques f or Memories 王 　健　李金凤　边福强　刘　欢 (沈阳化工学院信息工程学院 ,辽宁 沈阳 110142) 摘　要 :集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器 ,字存储器 , 　　多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间 ,故障覆盖率 ,面积开支之间进行折衷。 关键词 :存储器测试 ;功能故障模型 ;March 算法 ;BIST 　　在一个包含嵌入式存储器 ,微处理器 ,DSP 处理器 3 　多端口存储器测试 及模拟电路的通用超大规模集成电路中嵌入式存储器是 多端口存储器的多个端口可以同时访问存储器 ,且 最难测试的电路。测试存储器需要用大量的测试模式来 端口间是相互独立的。多端口存储器广泛的应用于多处 ( 激活存储器并将存储器的单元内容读出来与标准值进行 理器系统中。按强度来分存储器故障可分为强故障 本 ) 比较。测试通常采用B IST 的结构 ,该结构不仅可以大 身就能激活一个故障而无需多个故障的累加 和弱故障 ( ) 大的降低昂贵的存储器测试仪的使用 , 同时又可以降低 本身不一定能激起故障 ,但可累加来激起故障 。对于 测试时间 ,包括测试控制器 ,地址产生器 ,数据产生器 ,数 单端口故障 ,除 SAF 和 DRF 是强故障外 ,其它故障都是 ( 据比较器四个部分。 弱故障。双端口故障包括 :单个单元故障 2PF1 ,通过两 1 　单端口存储器的测试 个端口 A ,B 激活故障的单元与出现故障的单元是同一 ) ( 2003 年 Zaid al - Ars 和 Ad J . van de Goor 提出了一 个单元 ,两个单元故障 2PF2 ,2PF2 分为两种情况。一 套较完备的单端口存储器的故障模型 ,它包含四部分 :静 是应用两个连续的操作一个到耦合单元 ,一个到被耦合 态故障 ,动态故障 , 静态耦合故障 , 动态耦合故障。存 单元 ,激活被耦合单元的故障。一是两个连续的操作同