应用數位光弹法於光学镜头应力分析选编.PDFVIP

應用數位光彈法於光學鏡頭應力分析 陳永祥 黃吉宏 黃柏涵 許家偉 廖泰杉 國家實驗研究院儀 國家實驗研究院儀 國家實驗研究院儀 國家實驗研究院儀 國家實驗研究院儀 器科技研究中心 器科技研究中心 器科技研究中心 器科技研究中心 器科技研究中心 yschen@ chhwang@ tmw@.tw cwhsu@.tw tsliao@.tw .tw .tw 摘要 本文研究應用數位光彈法於光學鏡頭應力分析，用以觀測光學鏡頭的內應力及殘留應力。對於 光學鏡頭在鏡片組裝過程中，藉由固定組件固定鏡片，往往發生固定不佳會發生殘留應力問題，進 而影響到光學鏡頭成像品質不佳情形，亦會造成光學特性的改變。因此，如何觀測光學鏡頭的內部 殘留應力，是目前光電產業上相當重要且需求的技術。本研究以透明塑膠及玻璃材料之光學鏡頭， 應用數位光彈法於光學鏡頭應力分析。 關鍵字：數位光彈法、應力分析、光學鏡頭 壹、 前言 1853 年 Maxwel[4]提出應力光學定律，提出當材料受到應力時其光學折射率會改變，此定義建 立了光彈應力分析的理論基礎。不少學者陸續開發相關的光學系統以進行應力分析，最常見方法為 光彈應力分析。而透明材料的應用有相當大範圍，面板、光學透鏡皆是，此材料在產業具有多產 值。在生產、組裝及操作過程，難免造成應力殘留，而降低產品的品質。卻改變此現象，必須先從 測量該應力下手，光彈實驗法是目前較適合應力全域性量測方法。當光學鏡片成品在使用上發生破 裂或破壞時，就材料力學的觀點而言，此現象即表示該光學鏡片在破壞區域上，所承受之總應力值 超過了材料本身之物性強度值。 射出成型產品中存在的殘餘應力主要由兩個原因所導致，一為充填階段之由流動殘餘應力所引 發之分子排向，二為冷卻階段不均勻收縮所產生之熱殘餘應力。流動殘餘應力主要受到在塑膠充填 流動的過程中高剪切率所導致，而在充填之後的冷卻與脫模階段持續被釋放或凍結。熱殘餘應力則 由高溫的塑膠材料冷卻到玻璃轉移溫度後的不均勻的體積收縮與密度變化所生成。分子排向與流動 殘餘應力在充填階段與保壓階段是屬於高分子黏彈性的行為。在溫度高於玻璃轉移溫度之下，塑料 處於液態的階段，高分子鏈將依據流動方向產生相應對的配向。而射出成型過程中高冷卻率下的快 速固化將使得這些應力與分子排向無法被完全的鬆弛及釋放。流動殘餘應力一般認為比熱殘餘應力 小，然而流動殘餘應力與高分子的凍結排向息息相關，在現今的技術中利用流動殘餘應力提供與分 子排向的關聯是較為可行的方案。而高分子凍結排向影響了非等向性的機械性質、熱性質與光學性 質，並影響了之後的尺寸穩定度，因此流動殘餘應力之重要性是無法忽略[1] 。 流動殘餘應力在薄件成型中相對於熱殘餘應力更是扮演主導性的角色，因為薄件的冷卻太快使 得分子排向不完全鬆弛的量增加，而薄件也將產生比較少的體積收縮率及較小的熱殘餘應力。模穴 表面的固化層將成為熱的不良導體，使得在模穴核心的溫度可以維持高溫，使得分子排向在這區域 可以被鬆弛釋放。然而在薄件中整個產品在很短的週期下冷卻與凍結，因此流動殘餘應力在薄件中 佔有主導的地位，而熱殘餘應力則在厚件中佔有主導的地位。 要解決成品在使用上的破損問題，就應該從如何增加材料物性強度或從如何減少成品應力值來 著手。光學鏡片承受的應力作用通常可依應力來源區分為外部應力及內部應力兩種，外部應力是成 1 品在使用時所遭受之外力作用，此部分將視產品應用場合而定，通常是無法控制其程度，一