多路LCR 参数自动测试分析系统的开发.PDF

计算机应用 文章编号： ! !#$$%%’()*#(#* 多路!# 参数自动测试分析系统的开发 ! 明士斌 ，陈 伟 ，吉国力 （ 厦门宇电自动化工程技术中心，福建 厦门； 厦门大学自动化系，福建 厦门 ） ! # $%!’ 摘要： 参数测试分析系统的硬软件系统的设计与实现。系统以计算机和单片机 介绍了+,- 控制器为核心，结合专门开发的测试和数据分析软件，实现+,- 温度特性、频率特性的多通 道自动测试和数据处理，克服了传统人工测试费时、重复性差、数据分析困难、检测环境难 以控制等问题。 关键词： 测试仪；高低温箱；闭环测试系统 ()* 中图分类号： 文献标志码： #$% ’ $ 引言 （如图!）。 随着电子信息产业的快速发展，电子元器件研 在检测过程中利用计算机实现全自动温度和 制和生产的需求越来越大，无论在实验室还是在工 厂生产现场，都有大量电子元器件需要进行例行的 性能检测。国内目前大多采用传统半自动人工方 式。在电子器件性能测量中，各测量设备操作独立， 所有仪器设备的参数初始设置、数据记录、调节切 图 总体设计图 换以及之间协调都是由人工来完成，最后数据分析 $ 需要人工重新整理或录入计算机采用专用软件处 频率控制，让各独立设备仪器协同工作，使通道切 理。对此，有必要研制计算机控制+,- 的全自动闭 换、数据采集、数据处理达到全自动控制，改进了测 环检测系统，提供以计算机控制为核心的+,- 温度 试方式，提高检测精度和效率。 特性、频率特性的多通道测试系统，克服传统人工 %% 硬件系统的组成及功能 测试方式费时、重复性差、数据统计分析困难、测试 采用高速数据通信方式，设计一集成控制模 环境难以控制的缺点。 块，将+,- 测试仪、高低温箱仪器设备有机地集成， 引入计算机实时智能控制方式对这些系统环节进 % 全自动!# 检测系统的设计与实现 行控制和信息交换，自动记录测试数据、进行数据 %$ 总体系统方案 分析以及大量事后统计对比分析，实现温度控制、 +,- 全自动闭环检测系统是通过自行设计开 频率调整、通道切换、数据处理的全自动化测量。 发的系统集成控制模块将计算机、 测试仪和高 利用自行设计的集成控制模块将 ! 台程控34 +,- 型 测试仪和 台 仪表程控的 低温试验箱三个独立单元连成一体，再通过设计开 %’/%5 +,- ! 56.//4 发的专用软件，构成一套以计算机控制为核心的材 高低温箱连接起来，由数字计算机统一控制来测量 料温度特性、频率特性多通道全自动闭环检测系统 电子元件在不同温度和频率下的特性（如图’ ）。 收稿日期： ；修订日期： ’(. !.!/