物理型硬件木马失效机理及检测方法骆扬王亚楠Physical - 物理学报.PDF

物理型硬件木马失效机理及检测方法 骆扬 王亚楠 Physicalhardwaretrojanfailureanalysisanddetectionmethod LuoYang WangYa-Nan 引用信息Citation: ActaPhysicaSinica, ,110602(2016) DOI: 10.7498/aps.65.110602 在线阅读Viewonline: /10.7498/aps.65.110602 当期内容Viewtableofcontents: /CN/Y2016/V65/I11 您可能感兴趣的其他文章 Articlesyoumaybeinterestedin 一种以压力一维均匀分布为特征的长条形对顶压砧 Astrip anvilapparatuswithlinearuniformpressuredistribution 物理学报.2016,65(10): 100701 /10.7498/aps.65.100701 氮化镓基蓝光发光二极管伽马辐照的1/f噪声表征 1/fnoisecharacterizationgammairradiationofGaN-based blue light-emitting diode 物理学报.2013,62(14): 140703 /10.7498/aps.62.140703 物理 学报 Acta Phys. Sin. Vol. 65, No. 11 (2016) 110602 物理型硬件木马失效机理及检测方法 骆扬 王亚楠 (中国信息安全测评中心安全检测处, 北京 100876) ( 2016 年2 月16 日收到; 2016 年3 月8 日收到修改稿) 对两种物理型硬件木马造成芯片退化或失效的机理进行了详细分析. 通过使用ATLAS 二维器件仿真系 统并结合SmartSpice 电路逻辑仿真器, 模拟了两种物理型硬件木马对反相器逻辑电路输出特性的影响. 使 用ATHENA 工艺仿真系统模拟了掺杂离子注入工艺过程, 实现了掺杂型硬件木马的金属-氧化物-半导体场 效应管(MOSFET) 器件; 使用热载流子注入退化模型对ATLAS 仿真器件进行热载流子压力测试, 以模拟热 载流子注入型硬件木马注入MOSFET 器件并造成器件退化失效的过程, 分别将上述掺杂型硬件木马和热载 流子注入型硬件木马的MOSFET 器件与另一个正常MOSFET 器件组成同样的反相器逻辑电路. 反相器使 用Spice 逻辑电路仿真输出DC 直流、AC 瞬态传输特性以研究物理型硬件木马对电路输出特性的影响. 为了 研究MOSFET 器件的物理特性本身对硬件木马的影响, 在不同温度不同宽长比( ) 下同样对反相器进行 Spice 电路逻辑输出仿真. 本文分析了离子掺杂工艺、热载流子注入压力测试形成的物理型硬件木马随压力 强度、温度的变化对逻辑电路输出特性的影响. 通过结果对比分析得出了含有物理型硬件木马的逻辑电路在 DC 直流输出特性上的扰动比AC 瞬态传输特性更明显的结论. 因此, 本文提出了一种针对物理型硬件木马的 检测流程. 同时, 该检测流程是一种具有可操作性的检测物理型硬件木马的方法. 关键词: 硬件木马, 热载流子注入, 器件退化, 失效分析 PACS: 06.60.Mr, 06.90.+v, 07.05.Fb DOI: 10.7498/aps.65.110602 到现在, 没有任何基于侧信道分析硬件木马的技术 8 1 引 言 作为评估标准或被认定是评估对象的测试指导 . 对于逻辑级硬件木马的检测, 采用对芯片开封、剖 缩短开发周期、整合优势技术、降低制造成本