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谱线弯曲对成像光谱仪辐射信号采集的影响 - 光学精密工程
第 卷 第 期 光学 精密工程
17 1
Vol.17 No.1
O ticsandPrecisionEnineerin
年 月 p g g
2009 1 Jan.2009
文章编号 ( )
1004924X200901002006
谱线弯曲对成像光谱仪辐射信号采集的影响
,
12 1
冯玉涛 ,向 阳
( 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室,吉林 长春 ;
1. 130033
2.中国科学院 研究生院,北京 100039)
摘要:为了研究谱线弯曲对棱镜色散成像光谱仪光谱辐射信号采集的影响,结合复合棱镜的色散特性,在可见近红外光
谱区( )内,分析了当光谱偏离量为 、 和 ( 为探测器像元尺寸)时系统采集到的辐射信号与
400 1000nm 0.010.1 0.5犱犱
~
没有谱线弯曲情况下采集到的辐射信号的偏差,以衡量谱线弯曲下系统辐射测量的变化。实验结果表明:谱线弯曲引起
的探测器上的光谱偏离会导致系统辐射信号采集发生变化。与没有谱线弯曲的情况相比,采集到的景物辐射信号在大
气吸收带的边缘出现明显的偏差,且信号的差值随光谱偏离量的增大而增大;当光谱分辨率提高时,一些较弱的吸收峰
附近也会出现明显的信号偏差。对于光谱分辨率平均为 10nm的成像光谱仪,谱线弯曲引起的光谱偏离量应控制在
0.3nm以内。
关 键 词:成像光谱仪;棱镜色散;辐射信号采集;谱线弯曲
中图分类号: ; 文献标识码:
TP702TP73 A
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