解说SXT-2000-HALL测试系统介绍.pptVIP

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  • 2017-09-09 发布于湖北
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SXT-2000-HALL测试系统介绍

. . 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 制作:张伟 * . * 顺芯测试SXT-2000 顺其自然,芯想事成! HALL测试系统 硬件和软件应用介绍 . * * 概述: 支持单输出和双输出霍尔IC测试.(即3PIN和4PIN) 支持锁存型,开关型,线性. 支持高达500GS的高斯提供. 可以单独QC测试也支持AUTO自动连机测试. 所有数据保存为EXCEL格式便于数据统计分析. 高精度测试经过+-偏差不超过2GS. 自动测试速度快基本测试参数每小时UPH2K. 测试最高电压可以达到45V,电流最大到2A. . * * 硬件外观(正面): 手动运行键 测试机复位键 输出控制键 参数显示屏 BNC接头接IC或金手指,PIN1-S BNC接头接IC或金手指,PIN4-S BNC接头接IC或金手指,PIN1-F BNC接头接IC或金手指,PIN4-F . * * 硬件外观(背面): DB25公头通讯口 . * * 硬件使用介绍: 1、按照IC对应脚接BNC线到金手指或IC或IC测试座。 2、连接PC和测试机USB通讯线。 3、接220V AC电源线,开220V 控制开关。 4、LCD显示屏亮,显示相关标志和测试参数,分BIN情况和测试良品和不良总数。刚开机都为零。 5、需要测试时候须先将正面右下角红色输出控制键按下

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