前言现今的电子产品都以符合小型化、高性能、高信赖度及高反应度等.PDF

前言 現今的電子產品都以符合小型 化、高性能、高信賴度及高反應度等目 標，使得電路元件的分布密度過高，電 路的體積大大的縮小，然而電路變得越 精巧，則會有很多的元件擠在很小的空 間當中，增加干擾的機會；其中又以電 磁干擾（Electromagnetic interference , EMI）及雜訊最令人感到困擾。 電磁干擾問題的考量，長久以來一直是電子裝備及系統在設計上 的一大盲點！此乃因電磁干擾所牽涉的因素繁多，以及處理時所需的 專業知識較廣的關係，然而由於科技產業的高度競爭，新產品的生命 週期越來越短，使的我們不得不尋求 EMI 問題快速解決的方式，來 縮短產品研發的時間，以期能搶佔市場的先機。 正確的選擇 EMI 測試設備，是準備著手於 EMI 放射測試者的入 門基本要求，從事 EMI 測試 ，無非是要使產品通過認證，使用簡單 的設備來做先期 pre-test 測試，減少不必要的錯誤測試,其中無形 Pre-test 減少往返實驗室的時間與金錢，一次就做好，是設計人員最 大的希望，正所謂『工欲善其事，必先利其器 』，而 NP-1000 EMI 探棒組就是您在 EMI pre-test 最好的利器。 Tenda NP-1000 EMI 探棒組 磁場環型探棒 * 2 PCS 電場殘牙探棒 * 1 PCS 探針探棒 * 1 PCS 轉接頭 * 2 PCS RF cable * 2 PCS Probe Technical Data Model Primary Sensor E/H or H/E Upper Resonant Probe Type Number Type Rejection Frequency ANT-01 6 cm Loop H-Field 41dB 790MHz ANT-02 3 cm Loop H-Field 29dB 1.5GHz ANT-03 6 mm Stup Tip E-Field 30dB ＞3GHz PR-03 0.01 mm H-Field 20dB ＜3GHz Model PR-03 FREQUENCY RESPONSE 100 kHz to 3 GHz VOLTAGE 10:1 ( Nominal ) For 50 Ω sources ATTENUATION RF ATTENUATION 20 dB ( Nominal