第5讲22组合电路ATPG基础HQU.pdfVIP

2.2 组合电路自动测试矢量生成 2.2 组合电路自动测试矢量生成 (ATPG)基础 (ATPG)基础 算法和表示法 结构测试与功能测试 定义 搜索空间 完备性 代数学 算法类型 2006-5-17 北京大学微电子学研究院SOC研究所 1 固定故障的起源 固定故障的起源 Eldred (1959) – 第一次将结构测试应用于 Honeywell Datamatic 1000 计算机 Galey, Norby, Roth (1961) – 第一次发表stuck- at-0 and stuck-at-1 故障 Seshu Freeman (1962) – 并行故障模拟固定故 障的应用 Poage (1963) – 固定故障的理论分析 2004-5-17 北京大学微电子学研究院SOC研究所 2 测试矢量生成方法包括： 1）穷举测试矢量，伪穷举测试矢量； 2 ）随机测试矢量，伪随机测试矢量； 3 ）故障模拟。 4 ）测试生成算法（ATPG ）； 1 测试序列生成算法 1.1组合电路测试码生成 通路敏化法 布尔差分法 D算法 PODEM算法 FAN算法 10值法 2004-5-17 北京大学微电子学研究院SOC研究所 3 许多测试序列生成算法是以通路敏化法（path sentization ）为基础 的。所谓通路敏化法是找出传递有故障时的信号，与正常时的信 号的相反信号的通路，以此来求出测试输入的一种方法。 理论上，组合电路的故障测试序列的生成是属于NP— 完全的（ NP complete ），其难度按指数规律增加。 由算法来形成故障测试序列，可以求得所有可能产生的故障测试 输入，从这个意义上说，它是比较完备的。但是，随着电路规模 不断增大，故障测试集的生成时间越来越长。这个时间与逻辑门 成指数关系。因此，为了缩短时间、提高效率，而宁可牺牲一定 完备性，提出了所谓故障模拟方法。 1.2. 时序电路测试码生成 1) 同步时序电路的迭代展开 2) 扩展D算法 3) 异步时序电路的迭代展开 2004-5-17 北京大学微电子学研究院SOC研究所 4 2 故障模拟方法 就是在逻辑模拟中设立故障状态。当对某一输入进行模拟时，如能得到 存在故障手工和正常时的不同输出，则该输入为故障测试输入。这是对 已知的输入求出可测的故障方法。 故障模拟法包括：并行故障模拟法、演绎故障模拟法（deductive fault simulation ）、同时故障模拟法（concurrent fault simulation ）和临界路径 跟踪。 3 随机测试和伪随机测试 随着数字电路的日益复杂，由于确定性测试生成/故障模拟方法价格昂贵 ，因而必须开拓其它新的测试方法。思想是引入了内建自测试（BIST ） 技术，即由电路内部自己测试自己，无需外部施加测试激励和评价响应 。目前，基本上采用两种自测试技术：随机自测试和穷举自测试。 4 穷举测试和伪穷举测试 n 对于一个n输入的组合电路，可用2 个输入图形进行彻底的测试。这种测 试称为穷举测试 （exhaustive testing ）。穷举测试