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蚀刻过程培训 2
刻蚀工艺培训 ;热探针和N型半导体接触时,传导电子将流向温度较低的区域,使得热探针处电子缺少,因而其电势相对于同一材料上的室温触点而言将是正的。
同样道理,P型半导体热探针触点相对于室温触点而言将是负的。
此电势差可以用简单的微伏表测量。
热探针的结构可以是将小的热线圈绕在一个探针的周围,也可以用小型的点烙铁。;什么是湿法刻蚀;HF/HNO3体系腐蚀机理;HF/HNO3体系腐蚀机理;HF/HNO3体系腐蚀机理;HF/HNO3体系腐蚀机理特点;HF/HNO3体系两区域腐蚀机理特点;HF/HNO3体系腐蚀液的选择;湿法刻蚀特点; 用无掩膜的背腐蚀来代替等离子刻蚀分离p—n结,背腐蚀使用HF-HNO3。溶液以及一些添加剂,避免了使用有毒性的CF4 气体,背腐蚀太阳电池的背面更平整,其背面反射率优于刻边,背腐蚀太阳电池能更有效地利用长波增加ISC。铝背场比刻边的更均匀,可以提高IQE,??而提高了太阳电池的VOC。;一、刻蚀槽;刻蚀槽液面;刻蚀槽硅片流入吸附刻蚀液原理;刻蚀槽硅片流入吸附刻蚀液原理;刻蚀槽前后硅片状态比较;刻蚀槽影响刻蚀效果的因素;Rinse 1;Alkaline rinse;碱槽溶液流向图(槽截面);Rinse 2;HF bath;氢氟酸槽溶液流向图(槽截面);Rinse 3;Dryer 2
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