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25卷第5期 微电子学与计算机 Vd．25No．5
2008年5月 MICRoELECr王的NICSCOM[PUn：R2008
May
一个基于扫描方法的DFT设计与实现
张炜杰1，陈亦灏1，沈怿皓1，赖宗声1，段春丽2
(1华东师范大学微电子电路与系统研究所，上海200062；2上海士康射频技术有限公司，上海200437)
摘要：DFT技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分．详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步
骤，并对一个32位FIFO存储器电路实例进行扫描设计．根据扫描链的特点和电路多时钟域问题，采用了三种设计
方案，整个流程包括了行为级venlog代码的修改、扫描设计综合以及自动测试模板产生(ATPG)．对不同的设计方
案给出了相应的故障覆盖率，并对生成的模板进行压缩优化，减少了测试仿真时间．最后分析了导致故障覆盖率不
同的一些因素和设计中的综合考虑．
关键词：可测性设计；扫描测试；扫描链；故障覆盖率
中图分类号：TN4 文献标识码：A 文章编号：1000—7180(2008)05—0169—04
AScanBasedDFT and
DesignImplementation
ZHANG Yi—ha01，SHENYi—ha01，LAI Chun—li2
Wei-jiel，CHEN Zong-shen91，DUAN
of
InstituteMicroeleetronics ChinaNormal
(1 CircuitSystem，EastUniversity，Shanghai200062，China；
Seamn Ltd
Technology 200437，Claim)
2‰hai Co．，帆hai
and
Abstract：DFThasb(xx2meaIl inIC methodofscan-basedtestisintro-
technology importantpart design．Thetheory
ducedindetailandall of32一bitFIFO DFT is tO
example mlmaoryusing technology thecharacteristic
presented．According
ofScaIl and
chainsmuliti-clockintheciI℃uit，three havebeenusedinthe fromcodemodification，scan
strategies d鹤ign
tothefinalATPG．Ther酷ultoffault is are and
synthesis coverage patternsoptimizedthe
presented．Bycompression。the
simulationtimeis
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