利用同步辐射扭摆器光源研究x射线同轴轮廓成像质量 investigation on the image quality of in-line outline x-ray imaging with wiggler source of synchrotron radiation.pdfVIP

第 30 卷 第 2 期 核 技 术 Vol. 30, No.2 2007 年 2 月 NUCLEAR TECHNIQUES February 2007 利用同步辐射扭摆器光源研究X 射线 同轴轮廓成像质量 骆玉宇 肖体乔 陈 敏 刘丽想 曾丹华 杜国浩 徐洪杰 （中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800 ） 摘要 利用北京同步辐射光源研究了准平行束 X 射线同轴轮廓成像中影响成像质量的若干因素。结果表明， 同步辐射光束在垂直方向能获得更好的边缘增强效果。尺寸较大的样品能获得更高的衬度。随着样品到探测 器距离的增大，衬度增大，但存在一个最佳距离。高分辨率的探测器可以获得较高的衬度和较好的边界锐度。 关键词 X 射线同轴轮廓成像，成像质量，同步辐射 中图分类号 O434, O43, O435.2 X 射线相衬成像是近几年来发展起来的一种新 相干性对医学成像中边缘增强效果的影响[12] 。北京 的 X 射线成像方法,它克服了传统 X 射线成像只能 同步辐射装置是国内能提供X 射线相衬成像高通量 通过样品对 X 射线的吸收来获取衬度的缺陷，利用 光源的唯一装置，以它为光源研究影响相衬成像质 X 射线穿透物体后携带的位相信息，使得弱吸收样 量的各种因素有其现实意义。 品的X 射线成像质量大大提高，同时降低了辐照剂 本文通过实验研究和理论分析结合的方法,研 量[1] 。这一方法在医学、生物学、材料科学等众多 究了准平行的同步辐射光在水平方向和垂直方向 X 领域越来越显现出其他成像方法不可比拟的优势。 射线同轴轮廓成像质量的差别，样品到探测器距离 同轴轮廓成像作为X 射线相衬成像的一种，具有光 (SDD)对衬度的影响，样品待分辨细节的尺寸以及 路简单、毋需光学元件等特点，应用前景广阔。 记录介质的分辨率对成像质量的影响。首先理论分 X 射线同轴轮廓成像对光源性能有较高的要 析了X 射线同轴相衬成像中影响空间相干性的若干 求，具备较好的空间相干性是实现高分辨率成像的 因素，然后结合在同步辐射装置上进行的相衬实验， 必要条件。随着同步辐射的出现，X 射线光源的空 对影响成像质量的若干因素进行了系统的研究，最 间相干通量得到了大幅度的提高。迄今为止，绝大 后对提高成像质量做了必要的总结和讨论。 部分的 X 射线相衬成像研究都是在同步辐射光源 进行的。近年来，Wilkins 等发明一种利用微聚焦 X 1 理论分析 [2,3] 射线光源实现多色 X 射线同轴轮廓成像的方法 ， 1.1 光源特性 这一方法只要求X 射线具有较好的空间相干性而不 必使用单色相干光源。到目前为止，基于微聚焦 X 理想的相干光源是单色点光源，而实际光源， 射线管的 X 射线相衬成像应用研究为数不多，在国 即使是最锐的光谱线也具有一定的线宽，且具有一 内有报道的只有中国科学院上海应用物理研究所X 定的广延性。于是产生了两类相干性问题，即时间 射线成像光学小组于 2003 年建立的一套实验室系 相干性和空间相干性。因为在同轴位相衬度成像中， 统[4] ，利用该系统已经开展了一系列的材料学、医 时间相干性对位相衬度的影响相对较小，所以本文 学及中药材显微鉴定研究[4-11] 。无论是在大型的同 只