高低温低气压试验设备的温度漂移问题.pdfVIP

维普资讯维普资讯 ·8 ·2003年第2期 环境技术 环·境试验设备 · 文章编号：1004—7204(2003)02—0008—03 高低温低气压试验设备的温度漂移 问题探析 李艳娇，刘志宏 (沈阳第一冷冻机有限公司，沈阳 110026) 摘要：本文主要介绍了环境试验设备的制冷原理及温度漂移问题，以Y6030Ⅱ一2型高低温低气压 设备为例，深入分析了其温度漂移的解决方法。 关键词 ：环境试验设备 ；制冷原理 ；温度漂移 中图分类号：TB131 文献标识码 ：A Solvethetemperaturechange．ofY6030Ⅱ一2type m gh、low tempera tureand low airpressuretestequipment LIYan-jiao，LIUZi-hong (ShenYangNo．1refrigerationCo．，Ltd) Abstract：Reportstherefrigerationprincipleandhtetemperature changeprobleanofEnvironmentalTestE- quipment；Y6030Ⅱ-2typeHigh、lowtemperaturenadlowairpressuretestequipmentistakenasna e~ILcn- pie，Analyzesitsresolventofhtetemperaturechange． Keywords：EnvironmentalTestEquipme nt；refrigerationprinciple；temperatureel~ ge 定的技术要求和试验方法来保证 电子原器件的可靠 前言 性就必须具有高性能的气候环境试验设备。 高低温低气压试验设备是为 电子工业、国防、航 1 首先介绍一下Y6030Ⅱ—2型高低温低气压试验 空航天及科研院所确定 电子产品(包括元器件、材料 设备的设计依据： 设备、整机)在高低温低气压同时作用下，考核产品 质量和可靠性的专用设备，同时可进行 电气性能参 1．1 设计理论 数的测量以及贮运和使用的适应能力的多种试验。 为了模拟 30000m高空时的温度和压力，使其性能指 标更接近高空环境，因而对这一类型的环境试验设 备提出很高的要求。国标 GB11159—89(低气压试 验箱技术条件和 GB10591—89(高温／低气压试验 箱技术条件)及 GB10590—89(低温／低气压试验箱 技术条件)中对此都有明确规定。 回顾以往的高低温低气压设备是温度试验与压 力试验分开进行的，先做温度试验而后再做压力试 根据物理学的知识，我们知道在金属壁 内存在 验。由于设计时的局限，做压力试验时造成低温温 度回升达 l5℃ 20℃，满足不了试件对试验设备的 着 自由电子。直接接触的相邻二层壁面的自由电子 技术要求，与真正的高空环境有误差。如何解决温 将能量传递给温度较低面的自由电子，这样热量就 度的漂移是我们 国家这一类试验设备的一大难题。 按着次序从内壁传到外壁表面。这种依据直接接触 如何满足 GB10591—89和 GB10590—89等标准所规 的物体各部分能量交换的方式是热量传播的基本方 收稿 日期：20O2—2—26 作者简介：李艳娇 (1970一)，女 ，助理工程师，主要从事环境试验设备、制冷空调设备的研究和