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多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为照相法和衍射仪法。 透射电镜的样品可分为直接样品和间接样品。 X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描投射电子显微镜的英文字母缩写分别是XRD、TEM、SEM、STEM。 电子束与固体物质（样品）相互作用可能产生的信号主要有背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线和俄歇电子等。 电子透镜有静电透镜和电磁透镜两种类型。 透射电镜的两种基本操作是成像操作和衍射操作。 电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳埃斑点、超点阵斑点、二次衍射斑点、孪晶斑点和菊池衍射花样。 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线谱和特征X射线谱。 产生衍射的必要条件是满足布拉格方程，充分条件是衍射强度不等于0。 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 X射线管主要由阳极、阴极和窗口构成。 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 所谓复型，就是样品表面形貌的复制，主要采用的复型方法有一级复型法、二级复型法和萃取复型法三种。 光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。在可见光波长范围，光学显微镜分辨本领的极限为200 nm。 弹性散射是透射电子显微镜的成象基础。 电子衍射产生的复杂衍射花样是 高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱X射线和特征谱X射线 产生衍射的必要条件是 满足布拉格方程 ,充分条件是衍射强度不等于0。 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 今天复型技术主要应用于萃取复型方法来揭取第二相微小颗粒进行分析。 X射线管主要由 阳极、阴极和窗口构成。 德拜照相法中的底片安装方法有：正装 、反装 和 偏装 三种。 测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于X射线物相分析方法中的定量分析方法。 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应 和像差两因素影响。 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子 和背散射电子。 下列方法中，（A）可用于测定方解石的点阵常数。 X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱 下列（D）晶面属于[110]晶带。 A、（110） B、（011） C、（101） D、（?1ī0） 最常用的X射线衍射方法是（B）。 A、劳厄法 B、粉末多晶法 C、周转晶体法 D、德拜法 可以提高TEM的衬度的光栏是（B）。 A、第二聚光镜光栏 B、物镜光栏 C、选区光栏 D. 其它光栏 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D） A、六方结构 B、立方结构 C、四方结构 D、A或B。 下面分析方法中分辨率最高的是（C）。 A、SEM B、TEM C、STM D、AFM 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（B）。 A、Co B、Ni C、Fe D、Cu X射线物相定性分析方法中有三种索引，当不知所测物质为何物时可以用（D） A哈氏无机数值索引 B芬克无机数值索引 C戴维无机字母索引 D、A和B X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（C） A哈氏无机数值索引 B芬克无机数值索引 C戴维无机字母索引 D、A和B 透射电子显微镜中可以消除的像差是（B）。 A、球差 B、像散 C、色差 D、几何像差 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1 nm厚表层成分的信号是（B）。 A、背散射电子 B、俄歇电子 C、特征X射线 布施指出（B）能使电子波聚焦。 A、轴对称均匀磁场 B、轴对称非均匀磁场 C、中心对称均匀磁场 D、中心对称非均匀磁场 光学显微镜的分辨本领约为（C） A、2 nm B、20 nm C、200 nm D、2000 nm 为什么说扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比较。 答：扫描电镜的分辨率和信号的种类有关，这是因为不同信号的性质和来源不同，作用的深度和范围不同。主要信号图像分辨率的高低顺为：扫描透射电子像（与扫描电子束斑直径相当）?二次电子像（几nm，与扫描电子束斑直径相当）背散射电子像（50-200nm）吸收电流像? 特征X射图像（100nm-1000nm）。 透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？ 答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 试述X射线衍射单物相定性分析的基本步骤？ 答：单相物质定性分析的基本步骤是： (1)计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值； (2)利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的