利用SEM对矿物的细部构造做更清晰的解析，原本在偏光显微镜下无法 .DOC

利用SEM對礦物的細部構造做更清晰的解析，原本在偏光顯微鏡下無法清楚解析出的影像在SEM底下可以有清楚的細部解析。 藉由SEM的幫助可以更清楚的分析礦物間相跟相的接觸關係，以及幫助我們辨別偏光顯微鏡無法觀察解析的細部組構。上面四個圖可以明顯指示出偏光顯微鏡所無法清楚解析之影像，在BSI中可以清楚的將不同的礦物相分辨出來。尤其是上圖中存在於角閃石上之極細粒之微小礦物顆粒，偏光顯微鏡只能看到角閃石中間有個帶狀受過蝕變的現象，在SEM底下可以清楚看到這個蝕變的區塊是由許多極細小的顆粒所組成 另外藉由EDS可以幫助我們分析礦物內部不同區塊的化學成分，在本研究中藉由EDS分析角閃石以及石榴子石的成分，藉以分辨角閃石即石榴子石的成分環帶以及相變的關係。 Spectrum 　 Mg Al Si Ca Cr Mn Fe Total 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 Line Spectrum(1) 　 3.1 20.5 38.0 6.9 　 5.9 26.8 101.1 Line Spectrum(2) 　 2.7 20.4 36.9 7.1 　 7.2 25.0 99.3 Line Spectrum(3) 　 2.4 20.6 38.0 7.2 　 7.7 25.3 101.2 Line Spectrum(4) 　 2.6 19.9 37.8 7.3 　 7.6 25.1 100.4 Line Spectrum(5) 　 2.5 20.9 38.4 6.7 　 7.8 25.2 101.4 Line Spectrum(6) 　 1.9 18.6 34.1 6.6 3.5 9.8 23.4 97.9 Line Spectrum(7) 　 2.2 20.7 37.6 7.2 　 9.6 23.7 101.0 Line Spectrum(8) 　 2.1 20.4 38.3 7.3 　 8.4 25.2 101.6 Line Spectrum(9) 　 2.5 18.8 35.3 6.9 1.6 7.4 24.2 96.7 Line Spectrum(10) 　 2.6 20.1 37.6 7.1 　 7.2 24.3 99.0 Line Spectrum(11) 　 2.5 19.7 35.3 7.2 　 7.4 24.6 96.6 Line Spectrum(12) 　 2.7 20.0 39.6 6.6 　 7.3 24.8 100.9 Line Spectrum(13) 　 3.0 20.7 37.9 7.0 　 5.3 26.2 100.0 Line Spectrum(14) 　 3.3 20.3 39.8 7.0 　 6.0 24.8 101.1 藉由線性的連續分析可以得到礦物從邊緣到核心的成分變化，藉由這些成分變化計算其原本的化學組成，並建立其生長的機制及模式。雖然部分數據受到礦物表面蝕變的影響而有所偏差，但是依舊可以從整體數值來判別礦物整體的相關性及變異性。