3第三章 原子谱线宽度.ppt

第三章 原子谱线的宽度;一、谱线的轮廓;二、自然宽度ΔυN（P25）;第二节 影响谱线变宽的因素一、 Doppler变宽（多普勒变宽半宽度ΔυD）;二、 Lorentz变宽（ΔυL） 激发态原子与其它粒子碰撞所引起的变宽称为Lorentz（罗伦兹）变宽。 原子核蒸气压力愈大，谱线愈宽。10-2 ? ;三、共振变宽（ΔλR）;四、 自吸变宽（ Δυa ） 由光源辐射共振线通过周围较冷的同类原子时被部分吸收，使光强减弱，这种现象叫做谱线自吸收，自吸收所引起谱线轮廓的变宽称为自吸变宽。 例如光源空心阴极灯发射的共振线被灯内同种基态原子所吸收产生自吸现象。;五、总谱线轮廓;六、场致变宽;第三节 谱线的超精细结构;第四章 原子谱线的宽度;一、热激发;(二)激发态原子的Boltzmann 分配 待测元素在进行原子化时，其中必有一部分原子吸收了较多的能量而处于激发态，据热力学原???，当在一定温度下处于热力学平衡时，激发态原子数与基态原子数之比服从 Boltzmann 分配定律： 可见，Ni/N0 的大小主要与“波长” 及“温度”有关。即 a）当温度保持不变时：激发能(h?)小或波长大，Ni/N0则大，即波长长的原子处于激发态的数目多；但在AAS 中，波长不超过600nm，换句话说，激发能对 Ni/N0 的影响有限！ b）温度增加，则 Ni/N0 大，即处于激发态的原子数增加；且Ni/N0随温度T 增加而呈指数增加。; 尽管原子的激发电位和温度T 使 Ni /N0 值有数量级的变化，但 Ni /N0 值本身都很小。或者说，处于激发态的原子数小于处于基态的原子数！ 实际工作中，T 通常小于3000K，波长小于600nm，故对大多数元素来说Ni /N0 均小于1％，Ni 与N0 相比可忽略不计，N0 可认为就是原子总数。 总之，AAS 对T 的变化迟钝，或者说温度对AAS 分析的影响不大！ 而AES 因测定的是激发态原子发射的谱线强度，故其激发态原子数直接影响谱线强度，从而影响分析的结果。也就是说，在AES 中须严格控制温度。 ;二、场致激发;三、光致激发;第二节 谱线的强度