VPT 公司2008~2009年航天大事记：.DOC

H级产品的航天应用概述 1993年，VPT由电源领域的3位博士创立，创立的时候是航天电源设计与咨询公司，为许多领先的美国卫星制造商提供技术支持，包括Hughes Space and Comm (现为 Boeing)， Lockheed Martin，Space Systems/Loral，ITT，USAF，USN，NASA等。 　　1998年，VPT在浑厚的航天电源设计能力和丰富的设计经验基础上，发展为电源模块的制造商。VPT在产品设计之初即关注航天应用的需求，设计过程反复对样品进行了大量抗辐照测试。 抗辐照概念的转变：总剂量(TID)取决于高剂量率(HDR)还是低剂量率(LDR)测试 2003年Interpoint公司承诺的抗辐照总剂量能够达100Krad(Si)的K级产品SMSA，用户在低剂量率测试条件下，发现模块4-5K即失效！此后，由其他几家权威测试机构重复了测试，结果高度一致。 这个事件引起了航天界对辐照概念的重新审视，辐照的总剂量（TID）可以由高剂量率（HDR）、低剂量率（LDR）两种测试方法获得。不同的电子器件对高、低剂量率的敏感度不同。原先采用高剂量率测试来获得总剂量的方法，现在被认定为不能完全代表电源模块的抗辐照能力。与真实太空环境更为符合的增强型低剂量率辐照测试（ELDRS），对电源模块来讲显得更为重要。 也是基于这个辐照概念的进化，美国宇航局提出了技术要求和生产要求高于 MIL-PRF-38534 Class K的TOR技术规范。目前，仅VPT一家电源厂商能够满足这个最新要求。 适用于航天应用的VPT Class H级产品 设计上： 全部选用对辐射具有免疫性的磁反馈隔离； 在标准产品的设计上，FET管的设计为RH FET预留出空间，保证产品的设计从最低级别到最高级别的一致性； 内部元器件从NASA推荐的RH器件库中选取，对元器件的辐射测试数据长期跟踪； 改进电容设计，不堆叠电容； 不使用纯锡器件，预防锡须的产生而可能导致的短路事件。 H级产品的抗辐照测试： VPT对标准化产品进行了大量的抗辐照测试，测试结果一致性非常高，表现出了非常好的抗辐照性能。 小功率模块：DVSA (5W), DVHF (15W), DVTR(30W)达到的辐照总剂量都在30K以上，且留有余量。大功率模块DVFL(50-120W)与小功率模块相比，抗辐照能力更强。 测试方案： 在高剂量率80rad(Si)/Sec和低剂量率 8μrad(Si)/Sec的辐照环境下分别测试。总剂量每增加10K即把模块拿出测试电性能。基于多年的航天经验，选取了对辐照最敏感的4项电性能参数来代表模块对辐照的典型反映，分别是a.满载的效率b.满载的输出电压 c. 抑制模式下的输入电流d.短路保护下的输出电流。测试样品的选择上，分别选取5V单路和15V双路输出的模块，型号覆盖5W~120W的功率档次，分别为DVSA (5W), DVHF (15W), DVTR(30W), DVFL(50-120W)。 测试结果： 在高低剂量率下，模块都表现出了优秀的抗辐照能力。由于40W以下的小功率模块设计上全部采用反激拓扑结构，测试结果基本一致，所以选择小功率中的DVSA来说明；同理，大功率模块全部采用正激拓扑机构，选择DVFL来说明。 1. DVSA2805S： 高剂量率辐射测试，总剂量测至55Ｋ模块工作正常。 2. DVSA2815D：低剂量率辐射测试，总剂量测至45K模块工作正常。 3. DVFL2815D： 高剂量率辐射测试，总剂量测至55Ｋ模块工作正常。 ２. DVFL2805S： 低剂量率辐射测试，总剂量测至４5Ｋ模块工作正常。 SEE测试： 测试方案： 由Texas AM Cyclotron Facility进行测试。测试样品选取DVSA, DVHF?,DVTR的5V单路和15V双路输出的模块。在模块空载和满载的情况下，选用不同能量的粒子束进行测试。粒子束分别是： a. LET=20.9 MeV/mg/cm2 (25 MeV/u Kr) b. LET=28.8 MeV/mg/cm2 (15 MeV/u Kr) c. LET=53.7 MeV/mg/cm2 (15 MeV/u Xe) 测试结果： 5V输出的模块由于内部的大电容，表现出的瞬态非常低。 15V输出的模块表现出的瞬态比较高，但可以通过外接电容来进行控制。 在航天应用H级产品时，为了提高可靠性，VPT推荐用户注意以下几个方面: 1、要求厂家做PIND测试： 原因：（1）PIND不在H级产品要求之内，用户购买H级产品后一般会自己做这项测试。但如果PIND不通过，无法向厂家退换产品。 （2）PIND测试容易产品误判