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基于msp430单片机的晶化监控系统设计与实现
2008年第6期 麓北仪表与自动化装置 ·23·
基于MSP430单片机畿晶化监控
系统设计与实现
张万宏1，壬晓兰2，王玮冬2
(1．青海火学化工学院，青海西宁8l0016；
2．甘肃省有色金属新材料衡部共建国家重点实验室，甘肃兰州730050)
摘要：针对非晶材料晶化过程的电特性，提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案，
介绍了靛控系统硬件和软件设计，谨嚣俸设事卡了以MSP430单片辄为核心的智熙温度控刺争电阻
攀测试装置。试验结果表明该系统既捷蔼了控稠精度和可靠挂，降低了秀发成本，又能准确及聍地
爽瑰黪螽糖耪鑫程过程电特洼懿在线镑态研究。
关键词：磊化监控；组合鸯校正；MSP430
中图分类号：TP368文献标识弼：A
The and ofa control
crystallization
designimplementation monitoringsystem
basedontheMSP430
single—chipmicroprocessor
ZHANG
Wan-hon91，WANGXiao-lan2，WANGWei．dongz
(I．＆hootof吼m枷E州nt,rlng“，妇qinghaiUnitq,rsity，qinghaiXm／ng810016，Ch／na；
730050，C舶Ⅵ)
2．3tareKeyLabofC．ansuAdvancedNon-ferrousMetalMaterials，Gansuk，融w
totheelectric ofthe of
Abstract：According crystallizationprocessan越,norphousmaterial，
property
gt a8 asthe
the the ofa monitorand meterwdl
design resistivity configuration
paperpresents temperature
ofthehardwareandsoftwarebasedontheMSP430 resultfromits
single—chipmicroprocessor。Theappli-
cationshowsthatthis hasnot thecontrol and alsoreduced
system onlyimproved accuracyreliability，but
all for aboutin ofthe
its costandofferedoccasion timeanon—line
development bringing
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