晶体在偏振光下的光学性质.pptVIP

第一节 偏光显微镜及薄片制备;物镜：;二、偏光显微镜的调节与使用;4·校正中心 A·在视域内选一小点置于十字丝中心 B·转动物台180度，注意观察小点的位置和轨迹 C·拧校正螺旋，使小点内移到中心距离的二分之一 D·手移薄片，使小点回中心。再旋物台，若小点还有偏移，重复上述操作 5·校正偏光镜方向 找一块黑云母，置于视域中心 旋转物台，使解理缝为左右方向 旋动下偏光镜使其颜色最深，此时的下偏光镜为PP方向 取下薄片，推入上偏光镜，使视域全黑。则上下偏光镜正交。;单偏光镜下观察晶体光学性质的内容 单偏光镜下观察，即只使用下偏光镜 观察内容有 晶体形态、解理 突起、糙面、贝克线 颜色与多色性 晶体颗粒大小、百分比含量。;一、晶体形态;2·晶体的自形程度 依晶体的边棱的规则程度分类 A·自形晶：晶形完整，呈规则多边形，边棱为直线 B·半自形晶：晶形较完整，棱部分直线，部分为曲线 C·他形晶：不规则粒状，边棱为曲线。;二、解理及解理夹角的测定;2·解理的完善程度分级 A·极完全解理：细密连贯直线缝 B·完全解理：较粗的平直缝，但不完全连贯 C·不完全解理：断续解理缝，勉强能看清成一个方向。;3·解理角的测定 A·选择合适的解理缝：有同时垂直切面的两组解理的晶体颗粒，即两组解理都最清楚，升降镜筒都不移动 B·使一组解理平行目镜的十字丝的竖线，记下物台的刻度数a C·旋转物台，使另一组解理平行目镜的十字丝的竖线。记下计数b。 两组计数之差(a-b)即测的两组解理的夹角。;三·颜色与多色性;2·吸收性与多色性 吸收性 均质体 各向同性，不同振动方向的光波选择性吸收都相同 矿物的颜色与浓度不因矿物中光波的振动方向的不同而变化。 非均质体 的颜色及浓度随方向的变化而变化 即随着物台的旋转，颜色及颜色的浓度有规律地周期性变化。 ;;四、贝克线、糙面、突起及闪突起;2)贝克线规律： 提升镜筒，贝克线向折射率高的介质方向移动 下降镜筒，贝克线向折射率低的介质方向移动 贝克线的灵敏度很高 用白光照明，两介质折射率差0.001即可见贝克线 用单色光照明时，灵敏度可提高到0.0005 用贝克线的移动规律很容易判断两相邻介质的折射率的高低 为了看清贝克线，观察时要缩小光圈，将界面移动到视域中心，移开聚光镜。;3)贝克线产生的原因 由相邻物质间折射率不同引起。两介质接触有四种情况（N折射率大，n折射率小） A·n盖于N之上，接触界面较平缓。光线能透过界面向折射率大的介质方向偏折（Nn，入射角大于反射角），光线在N侧加强，提升镜筒，亮线向N侧移动 B·n盖于N之上，接触界面较陡。因Nn，入射角大于临界角，光线发生全反射，向N方向偏折。移动情况同A C·N盖于n之上，光线总是能透过界面向N方向偏折（因N大于n，入射角小于反射角） D·接触界面垂直切面，此时垂直透射的光线无折射作用，但斜射光线N侧者发生全反射，n侧者则能透过界面在N侧加强形成亮线。;2、糙面 单偏光镜下观察晶体表面，某些很光滑，某些粗糙呈麻点状，这种表面的粗糙现象称为糙面 糙面产生的原因 矿物表面的凹凸不平，覆盖在晶体上的树胶的折射率与晶体折射率有差异，当光线通过二者接触面时，发生折射甚至全反射，至使薄片中晶体表面光线集散不一，而形成明暗程度不同的斑点 糙面产生的必要条件： 矿物本身表面不平 矿物与树胶间存在折射率差;3·突起及闪突起 晶体薄片中不同的晶体表面好象高低不一的现象称为突起 这是一种视觉的错觉，实际中薄片中的晶体切面是一样高的。 这种现象是由于树胶与晶体的折射率差引起的，折射率大的晶体表面看起来高些 原因在于折射率大光线偏折度大，使人感觉晶体表面抬高 晶体折射率大于树胶时为正突起，小于树胶时为负突起。 双折射率较大的光性非均质体，在单偏光镜下旋转物台时，突起情况发生明显变化，称为闪突起，它与晶体的双折射率有关。;正交偏光镜即上下偏光镜一起使用，且使上下偏光镜的振动方向相互垂直。 PP代表下偏光镜的振动方向，AA代表上偏镜的振动方向。为了观察方便及准确测定晶体的光学数据，还要使上下偏光镜的振动方向与目镜的十字丝一致 在正交偏光镜下无薄片时视域应是全黑的 正交偏光镜下观察的内容有：干涉、干涉色级序、双折射率、消色、双晶、测定消光角、延性符号等;一、正交偏光镜下的干涉现象;2·决定正交偏光下干涉的因素 A·光路分析：自然光→反光镜→下偏光镜（振动方向平行PP）→晶体薄片（产生双折射，分解成平行NgNp的两束偏光） B·双折射产生后的效应： NgNp在晶体中的不同方向振动，其传播速度也不同。Vp速度大，称为快光。Vg速度小称为慢光。 VgVp两束偏光通过薄片后产生光程差（以R表示），经空气传播后，在到达上偏镜之前R保持不变;快慢光在晶体中的传播速度不同,快慢