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椭偏精确测定透明衬底上吸收薄膜的厚度及光学常数
李江 唐敬友 裴旺 魏贤华 黄峰
Accurate determination of thickness values and optical constants of absorbing thin films on opaque
substrateswithspectroscopicellipsometry
LiJiang TangJing-You PeiWang WeiXian-Hua Huang Feng
引用信息Citation: ActaPhysicaSinica, ,110702(2015) DOI: 10.7498/aps.64.110702
在线阅读Viewonline: /10.7498/aps.64.110702
当期内容Viewtableofcontents: /CN/Y2015/V64/I11
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光学常数
李江 唐敬友 裴旺 魏贤华 黄峰
1) (中国科学院海洋新材料与应用技术重点实验室, 浙江省海洋材料与防护技术重点实验室,
中国科学院宁波材料技术与工程研究所, 宁波 315201)
2)(西南科技大学材料科学与工程学院, 绵阳 621010)
( 2014 年9 月21 日收到; 2015 年1 月14 日收到修改稿)
椭偏仪
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