应用资料采矿于台湾中小尺寸面板厂品质异常原因分析模式.PDF

行政院國家科學委員會專題研究計畫 成果報告 應用資料採礦於台灣中小尺寸面板廠品質異常原因分析模 式 研究成果報告(精簡版) 計 畫 類 別 ： 個別型 計 畫 編 號 ： NSC 99-2622-E-029-007-CC3 執 行 期 間 ：99年06月01日至 100年05月31日 執 行 單 位 ：東海大學工業工程與經營資訊學系 計 畫 主 持 人 ： 洪堯勳 處 理 方 式 ： 本計畫可公開查詢 中 華 民 國 100 年 08月 31 日 行政院國家科學委員會補助產學合作研究計畫成果完整報告 應用資料採礦於台灣中小尺寸面板廠品質異常原因分析模式 計畫類別：□ 先導型 □開發型 ■ 技術及知識應用型 計畫編號： NSC 99－2622－E－029－007－CC3 執行期間： 99 年06月 01日至 100 年05月 31日 執行單位：東海大學工業工程與經營資訊學系 計畫主持人：洪堯勳 共同主持人： 計畫參與人員： 處理方式：依規定，原則上不予公開。 中 華 民 國 100 年 08月 29日 1 計畫中文摘要 ： 液晶顯示器面板製造程序相當繁複且製造速度快速，若是未能掌握品質異常之原因並及時改進， 則會造成大量不良品的產生，不利成本之競爭。目前面板產業相關製程品質檢測技術即設備發展已較 完善，但檢驗出品質異常的問題後，往往沒有一套最快速的架構來找出原因。 資料採礦技術可利用各種分析方法與技術從資料庫中，將過去所累積的大量歷史資料進行分析、 歸納、預測與整合，尋找出有價值的規則加以分析，進而萃取出有用的資訊或找出使用者有興趣的樣 式與知識，提供企業管理階層，作為訂定決策的依據。 本研究希望利用資料採礦技術進行品質問題歸因方面之探討，根據個人過去以我國中小尺寸面板 產業為例的研究經驗，首先可使用二階段分群法及自我組織映射圖網路法，比較不同方法的正確率， 其次利用正確率較高的結果，再使用決策樹方法歸納出造成品質不良現象的法則，提供廠方快速找出 品質異常原因。但個別公司有可能異於整體產業特性，此時就必須使用其他方法來做比較，驗證結果 是否可行。在實務上將與台灣中小尺寸液晶顯示器面板製造廠，凌巨科技股份有限公司合作，將過去 的經驗應用在同是中小尺寸面板產業的廠商，一來做為理論驗證，再者也可透過技術傳承使合作公司 在判斷品質異常因素更有效率。 關鍵字詞：資料採礦、集群分析、決策樹、品質問題分析、液晶顯示器面板 計畫英文摘要 ： The manufacture process of TFT-LCD is very complicated and the manufacture speed is also fast. It will bring a large number of defective goods and make the cost up if we don’t master the reasons of quality unusual and to reform them. The process of quality inspection technology in flat panel display industry is completed. But we don’t have a fast way or framework to find the cause of the quality problems. Data mining technolog