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  • 2017-08-12 发布于上海
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半导体芯片中等离子损伤的解决方案.pdf

半导体芯片中等离子损伤的解决方案

第 12卷第 10期 电 子 与 封 装 第 卷,第 期 总 第114期 12 10 , 年10月 Vol. 12 No. 10 ELECTRONICS PACKAGING 2012 半导体芯片中等离子损伤的解决方案 周 乾,程秀兰 (上海交通大学微电子学院,上海 200240 ) 摘 要:在研发一套基于0.18μm工艺的全新半导体芯片时,由于芯片工艺的要求我们将标准0.18μm 工艺流程中的接触孔蚀刻阻挡层由原来的UVSIN+SION 改为SIN ,但却引进了PID (等离子

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