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CMP抛光机抛光台温度控制的研究 Study on Temperature Control Technology of CMP Polish Table
茎 鱼 夏 团
CMP抛光机抛光台温度控制的研究
王 伟,王东辉,李 伟
(中国电子科技集团公司第 四十五研究所 ,北京 东燕郊 101601)
摘 要 :阐述 了CMP抛光机抛光 台的温度控制方法。用有 限元软件 ANSYS模拟 了抛光台和循
环水的热交换过程 ,并且分析循环水的流量和温度对热交换效率的影响,得 出循环水流量和温度
跟热交换效率的关 系。根据 它们之 间的关 系.设计 了一种 CMP抛光机抛光 台温度控制 系统和方
法 .通过有限元软件 ANSYS模拟 了该温度控制系统和方法的控制过程 。模拟结果显示该系统和
方法不仅控制效率和精度都比较高,而且最终温度也很稳定 ,能够迅速 、精确 、稳定的将抛光 台表
面的温度控制在所设定的温度 ,很好的满足CMP抛光工艺的要求。
关键词 :化学机械抛光 :抛光 台:温度控制
中图分类号:TN305.2 文献标识码 :A 文章编号:1004.4507(2011110.0024—05
StudyonTemperatureControlTechnologyof
CM PPolishTable
WANG Wei,W ANG Donghui,LIW ei
(The45ResearchInstituteofCETC,Beijing101601,China,)
Abstract:Thispaper introducesthe temperature controlsystem forthepolish table in Chemical
MechanicalPolishing (CMP)equipment.BythefiniteelementsoftwareANSYS,theheat—exchange
processbetweenpolishingtableandcirculatingwaterisanalyzed,andalsotherelationbetween the
flow andtemperatureofwaterandthepolishingtable’Stemperautreissutdied.Basedontheanalyses
result,thearticledesignsakind oftemperautrecontrolsystem forpolish table.And simulatethe
processoftemperautre controlused theansyssoftware.The simulatedresultshowsby thisquick,
accurateand stabletemperautrecontrolsystem,polishingtabletemperatureisundercontro1.Sothis
system meetstherequirementsofCMPpolishingprocess.
Keywords:Chemicalmechanicalpolishing;Polishtable;Temperaturecontrol
化学机械抛光 (CMP)是一种对半导体材料或 抛光是结合抛光液 中化学溶液的腐蚀和磨粒的机
是其它类型材料的衬底进行平坦化或抛光的方 械磨削双重作用,使硅晶片获得极高的平面度和
法,广泛应用于集成电路 (IC)制造业中。化学机械 平整度的一项工艺。如图 1所示,抛光时抛光台绕
收稿 日期 :2011-08—05
万方数据
万方数据
CMP制造工艺与设备 电 孑 工 业 苣 用 i殳吝 -
在 50℃、60℃、70℃、80℃时,水的运动黏
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