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2017-08-12 发布于上海
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HALT 测试综述 General discussion about HALT.pdf

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HALT 测试综述 General discussion about HALT

2008年7月电子测试 Jul。20鸺壹17期 ELECTRONtcTEST l、lo．7 HALT测试综述朱建华 (深圳市计量质量检测研究院深圳518055) acoel啪ted1ife 摘要：H舡一(}1ighly testir】g)测试，主要应用于产品研发设计阶段，对于暴露产品的潜在缺陷效果明显，是设计工程师提高产品可靠性的重要实验手段。目前该实验方法已被国内外电子业界充分认可并逐渐推广使用。本文介绍了HAIT测试对提高产品可靠性的重要性，阐释了与HAIrT实验相关的一些术语和定义，并就如何进行HAI，T实验进行了较详细的论述，内容涉及实验前的准备工作、实验参数的规格指标、实验设备的能力要求以及实验步骤和实验细节等。文章还对HAIT实验后关于测试报告和后续整改及验证的要求进行了概括。关键词：H√虹J；潜在缺降；步进应力实验；可靠性；工作(操作)极限；破坏极限；六自由度振动中图分类号：TB24文献标识码：A GeneraIdiscussionaboutHALT Zhu Jianhua (甄绷z^绷Ac口d踟yD，^如￡r0ZD删口删Ql以幼J掰户∞￡i伽，跏铆办鲫5】8055，吼i触) Abstract： acceleratedlife is inthe Highly testinggenerallyperfomedproductdesigning Itis effectualto the of bean process．very exposepotentialshortageproduct，andmay impor— tant to the testhasbeenunderstood experimentwayimproveproductreliability．Now，HAL，r and nloreandmoreelectronicandelectric This intro— manufacturer． appliedby products paper ducesthe on the ofHAL，rand some importanceimprovingpmductS，reliabilityby way explains correlativedefinitionsabout a abouthowtoconductHAI。Tre— HAI。T，and providesguideline to latingexperimentprovision，technicalspecification，testingequipment etc．The alsoconlInendshowtowritethetest andhowto practicecompetenciespaper report correctthe withvalidationafter disfigurement