层次型结构片上网络测试方法研究 research on test strategy for hierarchical network-on-chips interconnection infrastructure.pdfVIP

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层次型结构片上网络测试方法研究 research on test strategy for hierarchical network-on-chips interconnection infrastructure

第23卷第5期 电子测量与仪器学报 场£23No.5 ·34· JoURNALoFELECTRoNlCMEASUREMENTANDINsTRUMENT 2009年5月 层次型结构片上网络测试方法研究水 赵建武师奕兵王志刚 (电子科技大学自动化工程学院,成都610054) 摘要:使用HDL硬件描述语言建模了在FPGA芯片中可综合实现的二维网状片上网络,在此基础卜建立了片上网络测试 平台。提出了一种新颖的基于全扫描和逻辑内建自测试的层次型结构片上网络测试方法,论述了层次型结构和非层次型结构 SoC芯片测试方法的差异,给出了与IEEEStd.1500标准兼容的测试壳设计,测试响应特征分析使用空间和时间数据压缩技术。 实验结果显示本文所提出测试方法能有效地减少测试时间和测试数据量,从而降低了整体测试成本。该方法适用于不同类型的 片上网络。 Std.1500 关键词:片上网络;层次型结构;全扫描;逻辑内建自测试;测试壳;IEEE 中图分类号:TN407 文献标识码:A 国家标准学科分类代码:510.3010 Researchontest forhierarchical strategy network--on--chips interconnectioninfrastructure ZhaoJianwuShi YibingWangZhigang ofElectronicScienceand of 1 ofAutomation 6 (School Engineering,University TechnologyChina,Chengdu0054,China) Abstract:2Dmesh NoCtest describedVHDLismodeled.andanoveltest forthehi- topologicalplatform strategy erarchicalNoCinterconnectinfrastructureis basedonfull BISTandanIEEEStd.1 proposed scan,logic hierarchical test differencesbetweenthetestmethodof andnon—hierarchicalSoCsisdiscussed.anda wrapper.The and data usedintest isdescribed.The resultsshowthata time scheme space compaction responseanalysis experimental tradeoffofarea data testtimeareachievedthe methodCan good overhead.testvolume。and by proposedtechnique.The be for NoCsizesanddoesnot onthenetwork and the appliedlarge depend routingswitching

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