大功率白光led寿命试验及失效分析 life test and failure mechanism analyses for high-power white led.pdfVIP

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2017-08-13 发布于上海
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大功率白光led寿命试验及失效分析 life test and failure mechanism analyses for high-power white led.pdf

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大功率白光led寿命试验及失效分析 life test and failure mechanism analyses for high-power white led

2010年2月照明工程学报 Feb． 2010 第2l卷第1期 ZHAOMINGGONGCHENGXUEBA0 VoL2l No．1 大功率白光LED寿命试验及失效分析赵阿玲尚守锦陈建新 (北京工业大学电子信息与控制学院，北京100022) 擒要：为了进行大功率白光LED可靠性研究，对大功率白光LED进行电流庇力加速寿命试验，分析研究光通量、发光效率、峰值波长、主波长和电压等参数随老化时问的变化情况，通过对试验出现的结果和失效现象进行分析比较，表明衰变退化的主要原因是荧光粉的退化、封装材料的热退化，以及散热问题导致的退化等。关键词：白光LED；老化；失效 LifeTestandFailureMechanismfor Analyses WlliteLED High-power Zhao Chen Shoujin Jianxin AlingShang electronic andcontrol (Schoolof information UniversityofTechnology，Beijing100022) engineering，Beijing Abstract Inthis stressacceleratedlifetimetestsand testareintroducedforwhiteLED paper，current reliability formed GaNblue and such88lumen byhigh·power chips phosphor．Someperformanceparameters flux， luminous main and were to wavelength，thewavelength studied．According efficacy，peak voltage mainreasonsofslowfailurearetheblue and results，the experimental chipperformancedegradationdecay methodsto the wereindicatedin phosphor．Someimprovereliability paper． Keywords：WhiteLED；Aging，failure 巨大…。 1 前言大功率LED是半导体照明的关键器件。而最终能否实现半导体照明，还有赖于大功率LED光效和半导体发光二极管是新型固态冷光源，其能效可靠性