瞬态平面热源法导热系数测试中测头漏热现象研究（副本）.pdf

瞬态平面热源法测试技术应用——Application Note ：002 瞬态平面热源法导热系数测试中 测头漏热现象研究 上海依阳实业有限公司 上海依阳实业有限公司—— 摘要：针对瞬态平面热源法热导率测试中的漏热问题，采用透红外材料和红外热像技术开展了相应的 研究工作。通过采用透红外的玻璃类材料、塑料类材料和蓝宝石材料作为被测试样，结合红外热像技术， 完美的证明了瞬态平面热源法在对热导率大于0.1 1 1 以上的塑料类材料测试过程中，可以完全不用 W m K 考虑探头漏热所带来的影响。而对于热导率小于 0.1 1 1 以下的低导热材料或热导率小于 W m K 0.03 1 1 的超低导热材料，瞬态平面热源法测试过程中的漏热问题还需要开展进一步的研究和验证 W m K 试验。 1. 背景 瞬态平面热源法作为一种绝对测量方法，在理论上可以达到很高的测量精度。在试样尺寸满足测试方 法规定的边界条件基础上，热导率的测量范围可以没有限制。因此，对于均质材料，采用HOTDISK 瞬态 平面热源法不失为一种操作简便和测量精度高的有效方法，在温度不高的范围内（-196℃~200 ℃），这种方 法可以作为一种标准方法来使用，并与其它热导率测试方法一起形成有效的补充和相互比对，甚至可以用 于校准其它测试方法。 任何方法都有其自身的局限性，瞬态平面热源法也是如此。在ISO/DIS 22007-2.2 Plastics - Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity - Part 2: Transient plane heat source (Hot Disk) method 中就明确 把瞬态平面热源法归结到塑料材料，也是考虑到瞬态平面热源法的局限性问题。 塑料类材料的一般特征是热导率在0.1~10 1 1 范围并呈现各项同性，因此使用瞬态平面热源法 W m K 对塑料类材料的测试可以得到很精确的测试结果。瞬态平面热源法是一种绝对方法，在理论上可以测量热 导率很低的材料，并已经在隔热类材料的热导率测量中逐渐得到应用。但在低导热（热导率 0.03~0.1 1 1 ）甚至超低导热（热导率小于0.03 1 1 ）类材料的测试过程中，测试中的一些边 W m K W m K 界条件制约了测量精度的提高，特别是在超低热导率测试过程中，施加在测量探头上的加热功率非常小， 基本为毫瓦量级，这时探头引线传热所引起的漏热问题就显着非常凸出。 对于瞬态平面热源法测试过程中的探头引线漏热问题，国内外几乎没有开展过相应的研究工作，只有 美国橡树岭国家实验室的Hsin Wang 等人与瑞典HOTDISK 公司的创始人Gustavsson 先生合作开展了比较 详细的研究，研究报道发表在2006 年的Thermal Conductivity 28/ Thermal Expansion 16 会议文集中。 本文将详细介绍Hsin Wang 等人的研究工作，并提出相应的问题，指出今后瞬态平面热源法测试过程 中漏热问题的研究内容。 2. 漏热现象研究试验设计 在瞬态平面热源法测试过程中，测量探头被两个被测试样夹在中间，因此很难评价探头引线对测试的 影响。为了深入了解探头引线对测试的影响，总的研究思路是：根据温度与红外线的关系，采用透红外被 测试样进行测试。在测试过程中测量探头通电加热会使探头的温度上升，如果有引线漏热现象发生，引线 的温度也会随之上升。那么采用红外探测设备就可以穿过透红外被测试样观测到探头和引线的温度变化情 况，由此来研究探头的漏热现象。 在本漏热现象研究过程中，透红外材料（3 ~ 5m 波长范围）选择了Zeon