静电衰减测试仪简介.pdfVIP

JCI John Chubb Instrumentation Part of Chilworth Technology Ltd 静电衰减测试仪简介 Charge Decay Test Unit 产品型号: JCI 155v5 - 1 - 电衰减测试综合描述 许多材料, 特别是塑料会因为摩擦产生静电, 利用静电的特性能制造出很多有用 的产品, 例如: 复印机, 静电除尘器, 静电喷涂等设备. 但是静电也会产生很大 的危害, 静电会引发易燃气体爆炸, 对人员的电击, 使薄膜材料互相粘着, 吸附 灰尘颗粒, 损坏半导体仪器和微电子设备等. 绝大多数静电的利用和危害都和材料表面所持有的静电荷量有关, 因此测量材 料持有静电荷能力成为一项非常重要的工作, 静电衰减期”是衡量一种材料静电 荷持有能力的重要指标. 静电衰减期”是指特定数量的静电荷多长时间能分布到 材料表面并且通过该材料泄漏到大地. 为了避免静电产生危害, 要求静电荷泄漏 的时间快于聚集的时间. 对于通常的人体移动和手工操作产生的静电, 要求静电 衰减时间小于0.25 秒. 新的理论认为在一个电容负荷高的材料表面, 即使聚集了 一定数量的静电荷也不会产生高的静电位. 对材料静电荷持有能力最简单易行的测试方法是在该材料上施加一定的静电荷, 然后观察静电荷消失所需的时间. 通过高压电晕放电施加一定数量的电荷在材 料表面, 一个具有快速反应的静电场测试仪测量材料表面的静电位, 然后记录静 电位下降直至消失的时间. 电晕放电施加电荷在材料表面是一种可靠的方法来模拟真实的静电产生事件, 可以控制初始电压和 性, 并且对任何材料都具有可行性, 甚至可以作用于液体 和粉体材料. 研究表明电晕放电测试方式非常真实地模拟材料摩擦起电和消散 过程, 并且是一种可以 复再现的测量方式. 最近研究发现材料的”电容负荷” (Capacitance Loading)是一个有用的指标来评估 静电危害, 电容负荷越高表示单个静电荷产生的静电位越低. 一个电容负荷高的 材料表面, 即使聚集了一定数量的静电荷也不会产生高的静电位. 这里的电容是指单位峰值电压的电荷量, 公式表示如下: C = Q / V C: 材料表面电容 Q: 材料所获得的电荷量 V: 材料表面峰值电位 - 2 - 当材料电容很大时, 即使该材料静电衰减时间很长, 但表面电位并不高, 所以静 电危害性不大. 电容负荷是指一个相对电容, 被测试材料电容除以一个标准参考值, 该参考值是 一个具有良好绝缘性并且非常薄的材料的表面电容(例如保鲜膜), 公式表示如 下: C* = Qref / Vref C*: 参考材料的表面电容 Qref: 参考材料所获得的电荷量 V : 参考材料表面峰值电位 ref 被测试材料的电容负荷(CL)为: CL = C / C* 静电衰减时间和电容负荷受环境温度和湿度影响很大, 被测试材料应该预先放 置在测试环境中一段时间, 建议24 小时以上, 然后再进行测试. JCI155v5 电衰减测试仪产品特点 l 可