用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方.PDFVIP

用紫外-可见-近红外分光光度计 测量粉末状TiO2 带隙的简单方 法 介 绍 测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等 行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料的紫外吸 收光谱确定它的带隙。 “带隙”指的是价带跟导带之间的能量差（图1）； 电子能够从某一能带跃迁到另一能带。对于电子来说要从价 带跃迁到导带，需要一个一定的最小能量来跃迁，即带隙 能。说明带隙的图示如图1 所示。 在半导体和纳米材料行业测量带隙是非常重要的。 绝缘体的带隙大（＞4eV ），导体的带隙小（＜3eV ）。某一 半导体的带隙特性可以通过不同的半导体合金得到控制，如 GaAlAs，InGaAs 和 InAlAs 。参考文献 1 用列表的形式给出 图1 带隙的解释说明 了不同材料以及对应的带隙。 另一个选择方案是在硅基底上镀上不同材料 的多层结构。此方法被广泛应用在制作光伏太阳能电 池的太阳能行业。因为带隙决定了一光伏电池所吸收 的太阳光谱区域，所以非常重要。到达地球的大部分 太阳辐射是由能量值大于硅带隙的波长组成的。这些 高的能量将被太阳能电池吸收，但是由于能量上的差 异部分被转换为热量而不是可用的电能。因而，除非 带隙得到控制，要不然太阳能电池的效率会非常低。 使用具有不同带隙的不同材料的多层结构被证明是一 种有效的最大化太阳能电池效率的方法。 在半导体和纳米材料行业，二氧化钛 TiO2 作 为其中的一种镀膜材料被使用。TiO2 被认为可通过散 射从金属电极反射回的光促进内部对光的捕获，并且 可以改善电子载体在活性层间的传输。 实 验 大家早已发现纳米材料研究此类材料时都用 很少量的样品进行的，所以对于此类分析采样方式就 成了一个关键问题。此实验在一台 LAMBDA 950 紫外 图3 粉末样品压具及样品杯 / 可见/ 近红外分光光度计（带有一个 150mm 积分 球）完成（PerkinElmer，Inc.，Shelton，CT USA ）。 图4 150-mm 积分球光路图 图2 LAMBDA 950 紫外/可见/近红外系统带150mm 积分球 样品的测试在表1 所列的参数下进行： 表1 仪器参数 盛有粉末样品的样品架（Prama Industries, 波长范围 250-800nm Mumbai, India- 图 3 ）夹在积分球的外光窗。使用了 狭缝宽度 2nm 一个少量粉末样品压具。 数据间隔 1nm 积分球的光路图示于图4. 2 计 算 禁带能(E)=h*C/ λ h=普朗克常数 =6.626×10-34 J ·s C=光速 =3.0×108m/s λ=截止波长=410.57×10-9m H C λ E eV 6.63E- 3.00E+ 4.11E- 4.84156E- 3.0259 34 08 07 1