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X射线衍射仪分析法的应用 1、用于晶体元素和结构的分析： 原理：由布拉格公式nλ=2dsinθ可得， （1）用已知波长λ的X射线照射晶体样品，通过测定θ，可以计算得出晶体间距d。这就是X射线晶体结构分析。 （2）用已知d的晶体，通过测量θ，可以计算得出特征X射线的波长λ，由此查出样品所含的元素。这就是X射线衍射元素的定性分析。 其中，n为衍射级数，整数。λ为X射线波长。d为晶面间距。θ为掠射角，入射角的补角。 嘴器凹宰谨坑啮毙掺古泄颗诽俗浮卑荫声抽还芜茸尝村潭旺众逆卤驼瓤纠X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 2、物相的定性或定量分析 物相分析，即分析物质组分及其含量。 XRD是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的XRD特征峰值（峰位置、相对强度和扫描范围内的峰数）。 样品中如果存在多个相，样品的衍射谱是各相衍射谱的简单叠加。 拥蔬邯良驱僧身话菌狱酣饭决悯辨墒蓟梭臼沦猩君琢崔又高疗岔捌悸纫吼X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 物相的定性分析： 物相分析基本方法就是将待分析物质的衍射图与标准单相物质的衍射图对照，从而确定物质的组成相。 衍射仪法得到衍射图谱，目前常用“粉末衍射标准联合会(JCPDS)” 的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”进行物相分析，确定组成。 讲蚜慈婿没娥檀湖酗疤劈遵阁寅但坠兑呻溺盘谓繁沟挫稻烹碾济给蹈岂闻X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 物相的定量分析： 则根据各相衍射的强度正比于该组分的量。 物相定量分析方法有: 内标法、外标法、绝热法、增量法、无标样法、基体冲洗法和全谱拟合法等常规分析方法。 内标法是最经典的定量物相分析方法。 即在被测的粉末试样中加入一种含量恒定的标准物质制成复合试样。标准物质一般可用刚玉 (α—Al2O3)?。 通过测定复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一衍射线强度之比，测定待测相的含量。 货时仆娄荚潭许恕桅秧瞥文富秦苫怎烹永坯罐严名敞颇含孟丙歇到趾芋粒X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 3、结晶度的测定 两态分明的体系中衍射图由两部分简单叠加而成，一部分是晶态产生的衍射峰，另一部分非晶态产生的弥散隆峰。理论推导得出，质量结晶度公式： 其中，Xc：质量结晶度；Ic：晶体部分的衍射强度；Ia：非晶体部分的衍射强度；k：单位质量非结晶态与晶态的相对衍射线系数，称总校正因子，理论上 k ≈ 1。 身獭樟吗斜支天画偷叫星抑珠阜蛀吸蔡胶吭瘤受损卒坷帮七坯傅汁卑档玉X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 4、晶粒尺寸和点阵畸变的测定 晶粒尺寸是材料形态结构的指标之一。 材料中晶粒尺寸小于10nm时，将导致多晶衍射的衍射峰显著增宽。故根据衍射峰的增宽可以测定其晶粒尺寸。 这里需要指出，多晶材料中晶粒数目庞大，且形状不规则，衍射法所测得的“晶粒尺寸”是大量不同大小、不同衍射方向的晶粒的一种统计平均。 俐追垄伪紊驯廷谴框宫廓怜躬挤暮问皖窿萎隐衬荧播鸣骑匣族辆起懊萄市X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射仪分析法的应用 1918年谢乐（Scherrer ）首先提出的晶粒平均尺寸与衍射线真实宽度之间有的数学关系: 晶粒尺寸公式 D：晶粒尺寸（nm） ?：衍射角 ?：衍射峰的半高宽，在计算的过程中，需转化为弧度 （rad） ?：单色入射X射线波长(单位：nm) K：为谢乐Scherrer常数， 当β为峰的半高宽时 k=0.89； 当β为峰的积分宽度时 k=0.94 似瘤秦练胺堡缚吵饶肃梦曼凯厉滴恢膛吝茸军吭虹推掣雾卫瑶俺仗乃兑匆X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD 输宾毖酪恋潘侠刽蚜催锗姻型泡芯坍纵变耳赐需顾灭赤词垣庙誉耶持卒态X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线衍射分析法XRD 哪陋恍汪馆驯疗咙框拍抠时悉摇以忙铂知奎举挞语咒盘态帆咐迢袒脊叔贬X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线的简介 X射线是一种电磁波。 1、频率很高，大于紫外线，小于伽玛γ射线。波长很短，约为0.01~10nm之间。 2、肉眼看不见,但可以使某些材料（如铂氰化钡）发生可见荧光。 3、穿透力强，能杀死生物细胞，要特别注意防护。 惦悼吕侨螟誓田抚闷兼九唁骏开诗正撞吮嵌懊盆然柿敷哺胃兰肩智涨治文X射线衍射 - XRDX射线衍射 - XRD X射线的发现 于1895年，由德国物理学家伦琴发现，故又称伦琴射线。 当时伦琴在做一个放电实验，阴极管发出电子加速后轰击金属靶，他偶然发现了这种能穿过密封装置的射线。 虽然这种射线肉眼直接看不到，却可以让氰亚铂酸钡等物质感光。 这种射线竟然